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凹型Si微透镜阵列的制作
被引量:
2
1
作者
何苗
易新建
+2 位作者
程祖海
刘鲁勤
王英瑞
《红外与毫米波学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第1期33-36,共4页
提出了一种新的曲率倒易法首次成功地在Si衬底上制作出 6 4× 2 5 6凹柱面折射微透镜阵列 ,扫描电子显微镜 (SEM)显示微透镜阵列为表面轮廓清晰的凹柱面阵列 ,表面探针测试结果显示凹微透镜阵列表面光滑、单元重复性好 ,其平均凹深...
提出了一种新的曲率倒易法首次成功地在Si衬底上制作出 6 4× 2 5 6凹柱面折射微透镜阵列 ,扫描电子显微镜 (SEM)显示微透镜阵列为表面轮廓清晰的凹柱面阵列 ,表面探针测试结果显示凹微透镜阵列表面光滑、单元重复性好 ,其平均凹深为 2 .6 43μm ,凹深非均匀性为 8.45 % ,平均焦距为 - 47.0 8μm .
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关键词
SI
凹微透镜阵列
氩离子束刻蚀
硅
制作
曲率倒易法
下载PDF
职称材料
题名
凹型Si微透镜阵列的制作
被引量:
2
1
作者
何苗
易新建
程祖海
刘鲁勤
王英瑞
机构
华中理工大学激光技术国家重点实验室
中国航天总公司二院
出处
《红外与毫米波学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002年第1期33-36,共4页
基金
国家自然科学基金 (编号 6 0 0 0 86 0 0 3)资助项目~~
文摘
提出了一种新的曲率倒易法首次成功地在Si衬底上制作出 6 4× 2 5 6凹柱面折射微透镜阵列 ,扫描电子显微镜 (SEM)显示微透镜阵列为表面轮廓清晰的凹柱面阵列 ,表面探针测试结果显示凹微透镜阵列表面光滑、单元重复性好 ,其平均凹深为 2 .6 43μm ,凹深非均匀性为 8.45 % ,平均焦距为 - 47.0 8μm .
关键词
SI
凹微透镜阵列
氩离子束刻蚀
硅
制作
曲率倒易法
Keywords
Si
concave microlenses array
Ar ion beam etching
分类号
TH74 [机械工程—光学工程]
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
凹型Si微透镜阵列的制作
何苗
易新建
程祖海
刘鲁勤
王英瑞
《红外与毫米波学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2002
2
下载PDF
职称材料
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