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运用Tebis对A面常见缺陷的修复方法
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作者 倪为华 王晓清 《模具制造》 2019年第7期73-77,共5页
A级型面即通常所说的汽车外覆盖件可见面,由于始终显露在外,因此其上如果存在任何细小的缺陷都会在日常光的照射下显现无遗,严重影响上海大众汽车产品的外观品质。编程室通过经验累积,分析A级型面缺陷产生的原因,不断尝试各种技术手段,... A级型面即通常所说的汽车外覆盖件可见面,由于始终显露在外,因此其上如果存在任何细小的缺陷都会在日常光的照射下显现无遗,严重影响上海大众汽车产品的外观品质。编程室通过经验累积,分析A级型面缺陷产生的原因,不断尝试各种技术手段,终于钻研出了一些较为有效的A面缺陷修复方法,使得模面数据质量得到了进一步的提升。 展开更多
关键词 曲率缺陷 连续性缺陷 A面缺陷修复
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基于缺陷曲率对含有V_1~V_4空位(5,5)单壁碳纳米管[1+1]和[2+1]加成反应的第一性原理研究 被引量:1
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作者 李磊 贾桂霄 +3 位作者 王晓霞 吴铜伟 宋希文 安胜利 《化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2017年第3期284-292,共9页
本工作使用GGA-PBE方法研究了H和O在含有V_1~V_4空位(5,5)单壁碳纳米管[1+1](H/[1+1])和[2+1](O/[2+1])加成反应的结合能、几何和电子结构.基于方向曲率理论提出的缺陷曲率包括原子曲率(KM-def)和键曲率(K_(D-def))预测了空位缺陷区不... 本工作使用GGA-PBE方法研究了H和O在含有V_1~V_4空位(5,5)单壁碳纳米管[1+1](H/[1+1])和[2+1](O/[2+1])加成反应的结合能、几何和电子结构.基于方向曲率理论提出的缺陷曲率包括原子曲率(KM-def)和键曲率(K_(D-def))预测了空位缺陷区不同原子和键的加成反应活性.计算结果表明,不管是[1+1]还是[2+1]加成,V_1和V_3空位缺陷中含有悬空键的C原子化学活性最强,且在[2+1]加成反应中C与O原子形成了羰基;对空位缺陷区其它原子或键,H与(5,5)管V_1~V_4空位缺陷区的原子结合能随K_(M-def)的增大而增大;O加成在大K_(D-def)的C—C键时,C—C键易被打断,形成C—O—C产物结构,且相应的结合能较大;O加成在小K_(D-def)的C—C键时,C—C键未被打断,形成三元环产物结构.H/[1+1]和O/[2+1]加成反应结合能除了主要受曲率的影响,还受到参与反应的C原子在(5,5)管最高占据分子轨道的电荷密度以及分波态密度的影响.这些研究将为含有空位缺陷碳纳米管的表面修饰提供理论依据. 展开更多
关键词 碳纳米管 空位 缺陷曲率 电子结构 加成反应性
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