光学元件表面疵病快速检测分类方法研究

按ICF相关工程标准进行光学元件表面疵病快速检测是ICF系统中急需解决的问题。本文采用基于替换数组的标记方法和边界跟踪算法快速提取疵病的特征信息,然后利用大量疵病检测结果建立疵病特征信息库及疵病分类准则,提出了一种超大图像的自动快速检测分类方法。实验结果表明该方法能满足实时性需求,取得了较好分类检测效果。