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电子元器件老炼试验技术
被引量:
17
1
作者
高成
张栋
王香芬
《现代电子技术》
2008年第16期189-191,共3页
老炼是对电子元器件施加应力,剔除有缺陷的元器件的过程。长时间的老炼会对一些原本健康的器件寿命产生影响,但是时间过短却又不能起到很好地剔除有缺陷的元器件的目的。在相关文章的基础上总结了哪类电子元器件适合进行老炼,以及元器...
老炼是对电子元器件施加应力,剔除有缺陷的元器件的过程。长时间的老炼会对一些原本健康的器件寿命产生影响,但是时间过短却又不能起到很好地剔除有缺陷的元器件的目的。在相关文章的基础上总结了哪类电子元器件适合进行老炼,以及元器件老炼时间的优化问题,提出电子元器件老炼的3个准则,电子元器件最优老炼时间的确定问题,以及元器件老炼发展方向。
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关键词
老
炼
元器件
最优
化
最优老炼时间
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职称材料
题名
电子元器件老炼试验技术
被引量:
17
1
作者
高成
张栋
王香芬
机构
北京航空航天大学
出处
《现代电子技术》
2008年第16期189-191,共3页
文摘
老炼是对电子元器件施加应力,剔除有缺陷的元器件的过程。长时间的老炼会对一些原本健康的器件寿命产生影响,但是时间过短却又不能起到很好地剔除有缺陷的元器件的目的。在相关文章的基础上总结了哪类电子元器件适合进行老炼,以及元器件老炼时间的优化问题,提出电子元器件老炼的3个准则,电子元器件最优老炼时间的确定问题,以及元器件老炼发展方向。
关键词
老
炼
元器件
最优
化
最优老炼时间
Keywords
burn - in
components
optimal
optimal burn - in time
分类号
TN304.5 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
电子元器件老炼试验技术
高成
张栋
王香芬
《现代电子技术》
2008
17
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