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电子元器件老炼试验技术 被引量:17
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作者 高成 张栋 王香芬 《现代电子技术》 2008年第16期189-191,共3页
老炼是对电子元器件施加应力,剔除有缺陷的元器件的过程。长时间的老炼会对一些原本健康的器件寿命产生影响,但是时间过短却又不能起到很好地剔除有缺陷的元器件的目的。在相关文章的基础上总结了哪类电子元器件适合进行老炼,以及元器... 老炼是对电子元器件施加应力,剔除有缺陷的元器件的过程。长时间的老炼会对一些原本健康的器件寿命产生影响,但是时间过短却又不能起到很好地剔除有缺陷的元器件的目的。在相关文章的基础上总结了哪类电子元器件适合进行老炼,以及元器件老炼时间的优化问题,提出电子元器件老炼的3个准则,电子元器件最优老炼时间的确定问题,以及元器件老炼发展方向。 展开更多
关键词 元器件 最优 最优老炼时间
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