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VLSI功能测试的最佳测试序列的选取
1
作者
曾成碧
陈光
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第2期178-181,共4页
介绍了VLSI功能测试向量生成的Petri网模型和Petri网模拟测试序列中指令的关系,构造了压缩存储网络的拓扑信息的Petri网简约矩阵。用Petri网简约矩阵检查测试序列的不确定度,使测试序列不确定度最小,从而优...
介绍了VLSI功能测试向量生成的Petri网模型和Petri网模拟测试序列中指令的关系,构造了压缩存储网络的拓扑信息的Petri网简约矩阵。用Petri网简约矩阵检查测试序列的不确定度,使测试序列不确定度最小,从而优化了测试序列,即从给定的指令中选出了最佳测试序列。
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关键词
最佳测试序列
功能
测试
集成电路
VLSI
下载PDF
职称材料
题名
VLSI功能测试的最佳测试序列的选取
1
作者
曾成碧
陈光
机构
四川大学电力系
电子科技大学CAT室
出处
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第2期178-181,共4页
基金
国家"八五"重点科研项目
文摘
介绍了VLSI功能测试向量生成的Petri网模型和Petri网模拟测试序列中指令的关系,构造了压缩存储网络的拓扑信息的Petri网简约矩阵。用Petri网简约矩阵检查测试序列的不确定度,使测试序列不确定度最小,从而优化了测试序列,即从给定的指令中选出了最佳测试序列。
关键词
最佳测试序列
功能
测试
集成电路
VLSI
Keywords
digital circuits
best test sequence
functional test
Petri net
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
VLSI功能测试的最佳测试序列的选取
曾成碧
陈光
《电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000
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