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VLSI功能测试的最佳测试序列的选取
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作者 曾成碧 陈光 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第2期178-181,共4页
介绍了VLSI功能测试向量生成的Petri网模型和Petri网模拟测试序列中指令的关系,构造了压缩存储网络的拓扑信息的Petri网简约矩阵。用Petri网简约矩阵检查测试序列的不确定度,使测试序列不确定度最小,从而优... 介绍了VLSI功能测试向量生成的Petri网模型和Petri网模拟测试序列中指令的关系,构造了压缩存储网络的拓扑信息的Petri网简约矩阵。用Petri网简约矩阵检查测试序列的不确定度,使测试序列不确定度最小,从而优化了测试序列,即从给定的指令中选出了最佳测试序列。 展开更多
关键词 最佳测试序列 功能测试 集成电路 VLSI
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