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半导体设备保护用熔断体的直流短路分断能力
1
作者
章克强
《低压电器》
北大核心
2007年第19期54-56,共3页
介绍了直流快速熔断体的短路分断试验项目及试验方法,分析了直流快速熔断体的I2t特性、最大电弧能量特性,指出直流快速熔断体可为半导体器件提供有效保护。
关键词
半导体设备
熔断体
I2t特性
最大电弧能量
下载PDF
职称材料
题名
半导体设备保护用熔断体的直流短路分断能力
1
作者
章克强
机构
国家低压电器质量监督检验中心
出处
《低压电器》
北大核心
2007年第19期54-56,共3页
文摘
介绍了直流快速熔断体的短路分断试验项目及试验方法,分析了直流快速熔断体的I2t特性、最大电弧能量特性,指出直流快速熔断体可为半导体器件提供有效保护。
关键词
半导体设备
熔断体
I2t特性
最大电弧能量
Keywords
semiconductor device
fuse-link
I^2t characteristic
max electric arc energy
分类号
TM563 [电气工程—电器]
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作者
出处
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1
半导体设备保护用熔断体的直流短路分断能力
章克强
《低压电器》
北大核心
2007
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