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一种求解组合逻辑电路最小完全检测集的算法
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作者 邓斌 谷京朝 《武汉交通科技大学学报》 1999年第3期282-285,共4页
提出一种产生组合逻辑电路最小完全检测集的算法.通过此算法可以得到组合逻辑电路中任意可测故障的测试及最小完全检测集.
关键词 D算法 最小完全检测集 组合逻辑电路
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一种产生组合逻辑电路最小完全检测集的算法
2
作者 邓斌 谷京朝 李棠之 《重庆通信学院学报》 1998年第4期43-47,共5页
提出了一种产生组合逻辑电路最小完全检测集算法。通过此算法可以得到组合逻辑电路中任意可测故障的测试及最小完全检测集。
关键词 逻辑电路 最小完全检测集 算法 D算法 检测D立方
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