基于微指令覆盖的最小指令集测试算法

着重讨论了如何利用微处理器中的自测试设计来缩短功能测试序列的长度 .首先 ,依据指令的表示模型 ,将指令测试分成微指令序列和微指令执行两个测试层次 ,提出了一个基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 ,只需检测指令集的一个子集就能达到指令测试的目的 .然后 ,通过定义指令的测试代价和测试效率 ,提出了一个可以有效地选择最小测试指令集的方法 .最后 ,将算法应用于 NRS40 0 0微处理器的功能测试 ,仅为传统的全指令集测试序列的 37.7% .