基于蒙特卡罗方法的密度测井薄层影响分析

薄层是影响密度测井的重要因素，利用蒙特卡罗方法对密度测井进行数值模拟，获取密度测井对薄层的响应资料，用于研究薄层对密度测井的影响，确定密度测井记录点及计数率曲线变化规律。研究表明，对于低密度薄层，随着薄层纵向位置的移动，计数率先增大后减少，曲线形态对称，极大值点为记录点；对于高密度薄层，随着薄层纵向位置的移动，计数率先减少后增大，曲线形态近似对称，极小值点为记录点。同时针对密度测井最小纵向分辨率进行了讨论。