有序分子薄膜结构的X射线光电子能谱表征

有序分子薄膜由于其特殊的结构而表现出优异的性能。为此 ,人们对微结构与宏观性能之间的关系极为重视。本文重点讨论了近年来X射线光电子能谱在有序分子薄膜位结构分析中取得的结果及其应用情况。其中包括 :薄膜厚度的确定、薄膜 基底界面结构、分子之间的相互作用情况及其有序分子结构对薄膜电学、气体敏感特性等宏观性能的影响。研究结果说明 ,X射线光电子能谱由于其对薄膜的损伤小、表面探测灵敏度高和较高的能量分辨能力 。

动态膜压仪在有序分子薄膜体系研究中的应用

应用动态膜压仪测定单分子膜在亚相上的表面压π,表面张力γ以及膜的崩溃压。研究两亲分子在亚相上铺展成膜的状态及其规律,为有序单分子薄膜的制备及成膜过程的研究提供了依据。

纳米硫化镉复合材料的研究进展

纳米硫化镉是一种重要的半导体功能材料,当前纳米硫化镉的研究主要集中在纳米材料的制备与生成机理的研究,对于纳米硫化镉与体材料的复合及其优异的化学性能在环境方面的运用研究还比较缺乏。本文综述了近年来国内外关于纳米硫化镉材料和纳米硫化镉复合材料的研究进展。

其它材料

Y99-61677-185 0007302损耗薄膜板上接地反跳的共振分布=Contribution ofresonance to ground bounce in lossy thin film planes[会,英]/Pannala,S.& Bandyopadhyay,J//Characterizationof flip-chip CMOS ASIC simultaneous switching noise onmultilayer organic and ceramic BGA/CGA packages.—185～188(EG)