介绍了一种气体倍增器(Gas Electron Multiplier,GEM)薄膜,研制了有效面积为10 cm×10 cm的单层GEM探测器原型机.利用55Fe的5.9 ke V的x射线源对单层GEM探测器的正比性,有效增益以及能量分辨率随漂移电场、GEM工作电压以及收集场的...介绍了一种气体倍增器(Gas Electron Multiplier,GEM)薄膜,研制了有效面积为10 cm×10 cm的单层GEM探测器原型机.利用55Fe的5.9 ke V的x射线源对单层GEM探测器的正比性,有效增益以及能量分辨率随漂移电场、GEM工作电压以及收集场的函数关系进行了测量,找到了探测器的最佳工作条件.实验结果表明,探测器的正比性良好,性能稳定.当GEM工作电压为451 V时,增益达到500,此时的能量分辨率为17.6%.展开更多
TN248.4 2001042419InGaN多量子阱面发射微盘激光器的理论研究=Theoreticalmodel for surface-emitting microdisk of InGaNMQW[刊,中]/谢成城,王舒民(北京大学物理系.北京(100871))//半导体光电.-2000,21(3).-188-192为了实现半导体微...TN248.4 2001042419InGaN多量子阱面发射微盘激光器的理论研究=Theoreticalmodel for surface-emitting microdisk of InGaNMQW[刊,中]/谢成城,王舒民(北京大学物理系.北京(100871))//半导体光电.-2000,21(3).-188-192为了实现半导体微盘激光器的单模面发射,设计了一种以InGaN多量子阱为有源层,GaN外延层为覆盖层的半导体微盘激光器。通过对GaN覆盖层进行图形刻蚀,可以对不同的角模式进行有选择的增益,由此实现选模。展开更多
文摘介绍了一种气体倍增器(Gas Electron Multiplier,GEM)薄膜,研制了有效面积为10 cm×10 cm的单层GEM探测器原型机.利用55Fe的5.9 ke V的x射线源对单层GEM探测器的正比性,有效增益以及能量分辨率随漂移电场、GEM工作电压以及收集场的函数关系进行了测量,找到了探测器的最佳工作条件.实验结果表明,探测器的正比性良好,性能稳定.当GEM工作电压为451 V时,增益达到500,此时的能量分辨率为17.6%.
文摘TN248.4 2001042419InGaN多量子阱面发射微盘激光器的理论研究=Theoreticalmodel for surface-emitting microdisk of InGaNMQW[刊,中]/谢成城,王舒民(北京大学物理系.北京(100871))//半导体光电.-2000,21(3).-188-192为了实现半导体微盘激光器的单模面发射,设计了一种以InGaN多量子阱为有源层,GaN外延层为覆盖层的半导体微盘激光器。通过对GaN覆盖层进行图形刻蚀,可以对不同的角模式进行有选择的增益,由此实现选模。