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多晶硅电阻I-Ⅴ特性分析
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作者 温殿忠 罗伯逊 《黑龙江大学自然科学学报》 CAS 1994年第3期72-76,共5页
本文提出一个有效捕获中心浓度的概念随着填充电荷Q的增加按指数规律变化,多晶硅薄膜电阻的I—Ⅴ特性与有效捕获中心浓度有关。当时,可导致多晶硅薄膜电阻出现负阻特性。
关键词 多晶硅电阻 有效捕获中心 负阻特性
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