高功率微波效应物有效接收截面测量

依据电磁场的基本原理定义了微波有效接收截面，并针对某一特定高功率微波效应物，利用现有测量系统在较宽频带内，对其有效接收截面进行了初步的测试，给出了测试结果图形，并加以释。对微波照射下物体的有效接收截面进行了一定的分析和研究，对电子设备受微波照射的响应进行了初步的实验探索，结果为ＨＰＭ对电子设备产生的效庆的非普适性提供了佐证。