GCM恒电流库伦测厚仪及XRF荧光光谱测厚分析仪在有机纳米银镀层厚度测量上的研究

确信乐思化学(上海)有限公司推出一种新的最终表面处理制程有机金属纳米银,该有机金属镀层与传统的有机保焊膜相比具有目测可见,可电测及优异的可焊性。这种新的最终表面处理制程以其优异的可靠性为印制线路板行业带来光明的前景。针对GCM恒电流库伦测厚仪及XRF荧光光谱测厚分析仪两种厚度测试方法在有机金属纳米银制成的应用方面进行一系列的研究。