一种多通道端口有源阻抗参数测试的方法

相控阵天线在扫描工作状态下各辐射单元的端口阻抗参数,即有源阻抗参数是描述相控阵特性的一个重要指标。介绍了一种多通道端口有源阻抗参数测试的方法,从实现方案、射频链路、测试原理等方面做出了分析,为相控阵天线多路通道的端口参数在工作状态下的测试提供了一种技术手段。