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辉光放电质谱法分析银铜合金样品时未知锂元素的鉴别 被引量:3
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作者 荣百炼 唐利斌 +2 位作者 杨彦 朱颖峰 李全保 《红外技术》 CSCD 北大核心 2010年第3期169-172,共4页
辉光放电质谱法(GDMS)作为一种固体直接分析技术,已广泛应用于各种金属、半导体材料的痕量和超痕量杂质分析。充分挖掘仪器的应用潜力,利用固体样品分析表征时所获得的诸多干扰峰信息,结合GDMS仪器的工作机理和特点,分析和甄别样品中的... 辉光放电质谱法(GDMS)作为一种固体直接分析技术,已广泛应用于各种金属、半导体材料的痕量和超痕量杂质分析。充分挖掘仪器的应用潜力,利用固体样品分析表征时所获得的诸多干扰峰信息,结合GDMS仪器的工作机理和特点,分析和甄别样品中的未知常量元素,以获得更全面的样品信息和更可靠的分析结果。 展开更多
关键词 辉光放电质谱法 干扰峰 未知元素分析
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