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宽温高频高反压沟道基区晶体管研制 被引量:1
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作者 丛众 吴春瑜 +5 位作者 王荣 石广元 闫东梅 张雯 朱肖林 汪永生 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第5期53-55,共3页
耗尽基区双极晶体管也称为双极静电感应晶体管(BSIT),其电流放大系数(hFE)具有负的温度系数.双极结型晶体管(BJT)的hFE具有正的温度系数.将BSIT与BJT并联,采用BJT常规平面工艺制造了宽温高频高反压沟... 耗尽基区双极晶体管也称为双极静电感应晶体管(BSIT),其电流放大系数(hFE)具有负的温度系数.双极结型晶体管(BJT)的hFE具有正的温度系数.将BSIT与BJT并联,采用BJT常规平面工艺制造了宽温高频高反压沟道基区双极PNP晶体管.本文描述了这种新器件结构、工作原理、设计与制造.新器件突出特点是:当温度变化较大时,hFE漂移较小.测试结果表明:环境温度从25℃升到180℃时,器件的hFE随温度T的变化率小于35%.优于同类型的常规双极结型晶体管,平均改善20%.当温度从25℃降到-55℃,器件的hFE变化率小于或等于30%. 展开更多
关键词 耗尽基区 静电感应 本征栅 双极晶体管 BSIT
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宽温超高频双极静电感应晶体管研制
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作者 丛众 王荣 +2 位作者 吴春瑜 闫东梅 王大奇 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1999年第2期24-27,共4页
描述了宽温超高频pnp双极静电感应晶体管的结构、工作原理、设计与制造。测试结果表明,环境温度从23℃升到180℃时,器件的hFE随温度平均变化率小于40%,优于同类型的常规双极结型晶体管,平均改善30%。
关键词 双极静电感应 本征栅势垒 沟道宽度 BSIT 晶体管
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Improvements on High Current Performance of Static Induction Transistor
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作者 王永顺 吴蓉 +1 位作者 刘春娟 李思渊 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第8期1192-1197,共6页
Methods for improving the high current performance of static induction transistor (SIT) are presented.Many important factors,such as "trans-conductance per unit channel width" θ, "gate efficiency" η, "sensiti... Methods for improving the high current performance of static induction transistor (SIT) are presented.Many important factors,such as "trans-conductance per unit channel width" θ, "gate efficiency" η, "sensitivity factor" D,and "intrinsic static gain" μ0,that may be used to describe different aspects of the electrical performance of an SIT are first defined.The dependences of electrical parameters on the structure and technological process of an SIT are revealed for the first time.The packaging technologies are so important for the improvement of high power performance of SITs that they must be paid attention.Testing techniques and circuits for measuring frequency and power parameters of SITs are designed and constructed.The influence of packaging processes in technological practice on the electrical performance of SITs is also discussed in depth. 展开更多
关键词 static induction transistor gate efficiency intrinsic static gain sensitivity factor
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场效应晶体管与模拟晶体管(静电感应晶体管)
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作者 西泽润一 罗海云 《微纳电子技术》 1976年第1期21-38,共18页
业已指出,普通场效应晶体管之所以表现出饱和特性,其原因是:随着漏电压的增加,在接近夹断电压时由于沟道串联电阻显著增大而提高了负反馈效应,此时表观跨导G′_m=G_m/(1+r_s·G_m)变为G′_m(?)r_s^(-1)。还指出,1950年Watonabe(渡边... 业已指出,普通场效应晶体管之所以表现出饱和特性,其原因是:随着漏电压的增加,在接近夹断电压时由于沟道串联电阻显著增大而提高了负反馈效应,此时表观跨导G′_m=G_m/(1+r_s·G_m)变为G′_m(?)r_s^(-1)。还指出,1950年Watonabe(渡边)和Nishizawa(西泽)发表的模拟真空型晶体管只有在内部负反馈作用小到G′_m(?)G_m时才呈现出不饱和的“立起的”特性。在这种情况下,当沟道尚未夹断时,特性是欧姆型的,晶体管可以作为一个良好的可变电阻;而当沟道已经夹断时,由于漏的静电感应,器件呈现出类似于真空三极管的“立起的”特性。因为这种晶体管的输出特性和输入特性一样,是以静电感应为基础的,它和真空三极管相类似,被称为“静电感应晶体管”。与肖克莱预言的“模拟晶体管”遵循空间电荷导电规律恰好相反,静电感应晶体管具有指数特性。业已确认,这种静电感应晶体管具有低噪声、低失真和大功率能力,并且已经作出大功率晶体管(8兆赫,2千瓦),高频晶体管(超高频几瓦)以及高速可变电阻器,正在制作微波晶体管、超高速集成电路以及可变电阻器。 展开更多
关键词 静电感应晶体管 串联电阻 负反馈 电力电子器件 输出反馈 本征栅 沟道
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