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Ⅲ-Ⅴ族化合物HBT模型参数提取
1
作者
刘军
孙玲玲
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第5期874-880,共7页
对Ⅲ-Ⅴ族化合物HBT模型本征集电极和发射极电流方程进行了改进,加强了模型的拟合能力.给出了HBT在零偏和冷偏下的等效电路模型,为精确提取基-射、基-集结本征和外围结电容,开发出一种新的、从零偏条件下测量所得S参数中直接提取本征、...
对Ⅲ-Ⅴ族化合物HBT模型本征集电极和发射极电流方程进行了改进,加强了模型的拟合能力.给出了HBT在零偏和冷偏下的等效电路模型,为精确提取基-射、基-集结本征和外围结电容,开发出一种新的、从零偏条件下测量所得S参数中直接提取本征、外部结电容的方法,该方法同时允许本征集电极电阻(Rci)的解析提取.运用该方法精确提取了一发射结面积为180μm2的GaAsHBT器件参数,验证结果表明,算法精度可达40GHz.
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关键词
Ⅲ-Ⅴ族
HBT模型
冷偏
本征和外部结电容
本征集电极电阻
解析提取
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职称材料
题名
Ⅲ-Ⅴ族化合物HBT模型参数提取
1
作者
刘军
孙玲玲
机构
杭州电子科技大学微电子CAD所
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第5期874-880,共7页
基金
浙江省重大科技计划(批准号:2004C21044)
浙江省重大国际合作(批准号:2004C14004)资助项目~~
文摘
对Ⅲ-Ⅴ族化合物HBT模型本征集电极和发射极电流方程进行了改进,加强了模型的拟合能力.给出了HBT在零偏和冷偏下的等效电路模型,为精确提取基-射、基-集结本征和外围结电容,开发出一种新的、从零偏条件下测量所得S参数中直接提取本征、外部结电容的方法,该方法同时允许本征集电极电阻(Rci)的解析提取.运用该方法精确提取了一发射结面积为180μm2的GaAsHBT器件参数,验证结果表明,算法精度可达40GHz.
关键词
Ⅲ-Ⅴ族
HBT模型
冷偏
本征和外部结电容
本征集电极电阻
解析提取
Keywords
Ⅲ-Ⅴ group
HBT model
cold-bias
intrinsic and extrinsic junction capacitances
intrinsic collector resist-ance
direct extraction
分类号
TN322.8 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Ⅲ-Ⅴ族化合物HBT模型参数提取
刘军
孙玲玲
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006
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