微波天线测量扫描架系统机械误差分析与精度设计

微波测量系统中,平面近场系统的应用越来越广阔,对测试效率的要求越来越高,待测件扫描面积越来越大,扫描定位精度越来越高。除了环境因素影响外,机械自身精度是限制扫描定位精度的主要原因,特别是特大型扫描架系统(一般X轴行程达20 m,Y轴行程达12 m)。文中主要针对扫描架机械误差进行精度设计,并通过实际工程案例予以检验,为后续大型扫描架机械系统设计提供可靠的方法指导和工程经验支撑。