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不同热化学还原LiNbO_3:Ti或Mn晶体杂质电荷态和点缺陷 被引量:1
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作者 刘建成 唐连安 +1 位作者 谭浩然 石春山 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1994年第4期391-398,共8页
采用光学吸收和电子顺磁共振(ESR)技术表征不同热化学还原LINbO3:Ti,Mli(LN:Ti,Mn)和纯的Li/Nb=0.945一致熔化LiNbO3(LN)晶体的热力学还原习性.将LN:Ti(厚度为1mm)样品放... 采用光学吸收和电子顺磁共振(ESR)技术表征不同热化学还原LINbO3:Ti,Mli(LN:Ti,Mn)和纯的Li/Nb=0.945一致熔化LiNbO3(LN)晶体的热力学还原习性.将LN:Ti(厚度为1mm)样品放在Li2CO3中、600℃、保温7h,产生690urn(~1.8eV,T=67%)和峰值靠近785nm(T=71%)的770 ̄810nm光学吸收带,它们分别对应于Ti(3+)的2T→2E跃迁以及室温稳定F+心滞有一个电子的氧空位).经真空1.2Pa,800℃2h还原后,存在峰值为675nm(T=52%)的480~780nm平滑吸收带,它们是Ti(3+)、F心和F+心重叠吸收,但是,在Ar气氛下、900℃、8h处理后,仅能看到峰值在675nm(T=52%)的600~780nmTi(3+)的弱吸收.来自未处理LN:Ti晶体的室温和X带的ESR$观察到g=4.348,共振磁场0.152TH(p-p)=0.0163T微波吸收峰,以及四组精细结构B线(每一fs线是由6条超精细结构hfs组成),g值从3.460~1.679吸收,它们分别归为于晶体杂质Fe(3+)和Mn(2+)离子.真空还原后,Fe(3+)的? 展开更多
关键词 铌酸锂晶体 掺杂 杂质电荷 点缺陷
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ZrO_2-Y_2O_3∶Co或Ce晶体热处理前后的杂质电荷态和禁带迁移
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作者 刘建成 胡百柳 +2 位作者 张道标 付林堂 王晓泽 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1993年第1期21-26,共6页
空气中生长(YSZ)ZrO_2-Y_2O_3(88∶12mol%)∶0.3wt%CoO 晶体的透射光谱呈现二个部分:<500nm 短波部分强的非结构吸收归为 Co^(3+)+O^(2-)→Co^(2+)+O^-电荷转移;以及六配位 Co^(2+)离子特征吸收,~4T_1(F)→~4T_1(P)560nm 和~4T_1(F)... 空气中生长(YSZ)ZrO_2-Y_2O_3(88∶12mol%)∶0.3wt%CoO 晶体的透射光谱呈现二个部分:<500nm 短波部分强的非结构吸收归为 Co^(3+)+O^(2-)→Co^(2+)+O^-电荷转移;以及六配位 Co^(2+)离子特征吸收,~4T_1(F)→~4T_1(P)560nm 和~4T_1(F)→~4A_2(F)605nm.该晶体经木炭包裹下加热到900℃后,除了禁带从3.97ev 变为4.43eV 外,短波部分和500~800nm(特别是500~605nm)范围吸收降低,然而,整个谱形尚无变化.未处理晶体包含 Co^(3+)和 Co^(2+),特殊热处理使 Co^(3+)转化为 Co^(2+),晶体由紫色变为蓝色.原来吸收边(3.97eV)是氧的 p 价带的电子到 Co^(2+)+F^+激发态造成的,4.43eV 新的吸收边认为是直接光学还原 Zr^(4+)→Zr^(3+)以及部分未还原 Co^(2+)离子共同作用.YSZ∶0.3wt%CeO_2晶体经真空、1300℃、6h 还原后,连结 Ce^(3+)离子基态~4F_(5/2)(4f)到5d 态跃迁的380~600nm(峰值在460nm)宽带吸收增加,晶体颜色由浅黄色变为桔黄.它的禁带由4.00eV 变为4.43eV.为了证实 YSZ∶Ce 晶体缺陷结构的存在和杂质离子价态,测量了这个晶体热处理前后的电子顺磁共振(ESR).由单电荷(Y_(Zr)V_0)′自由自旋和 Fe^(3+)离子的 ESR 信号变化,反推铈杂质在 YSZ 晶体中的价态变化. 展开更多
关键词 氧化物 晶体 热处理 杂质电荷
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等效电荷变换法及其在量子环研究中的应用
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作者 吴洪 《集美大学学报(自然科学版)》 CAS 2010年第6期478-480,共3页
利用等效电荷变换法,把三维空间中的杂质电荷对位于X-Y平面上量子环的影响,用一个在X-Y平面上(或X轴上)的虚拟等效电荷取代,从而使计算简化,对结果的分析更加清晰,物理图像更加明确.
关键词 量子环 杂质电荷 等效变换公式
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使用Y函数方法提取MoS2 FET双向扫描电学参数
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作者 赵宇航 卢意飞 刘强 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2018年第2期125-130,159,共7页
利用机械剥离法制备了多层背栅MoS_2场效应晶体管(FET),通过双向栅压扫描提取了器件的转移特性曲线,并利用Y函数方法提取了器件的电学参数。结果表明,利用Y函数法提取的载流子迁移率值明显大于利用跨导法提取的载流子迁移率值。这两... 利用机械剥离法制备了多层背栅MoS_2场效应晶体管(FET),通过双向栅压扫描提取了器件的转移特性曲线,并利用Y函数方法提取了器件的电学参数。结果表明,利用Y函数法提取的载流子迁移率值明显大于利用跨导法提取的载流子迁移率值。这两种提取方法的不同之处在于Y函数方法考虑了寄生电阻的影响,而跨导法则将其忽略了,这说明寄生电阻带来的影响是显著的。此外,该器件在双向扫描过程中出现了明显的回滞特性,这主要是MoS_2材料吸附外界杂质电荷造成的。无论采用跨导法还是Y函数方法,其正向扫描和反向扫描时对应的电学参数都不完全一致。这表明在分析MoS_2 FET的电学性能时,除了考虑器件的寄生电阻外,还需要考虑界面电荷的影响。 展开更多
关键词 MoS2场效应晶体管(FET) Y函数方法 寄生电阻 杂质电荷 回滞特性
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