基于自回归(AR)谱估计的高精度超声晶粒尺寸估计技术的研究

由于ＤＦＴ（离散Ｆｏｕｒｉｅｒ变换）谱估计方法的谱“泄漏”，导致基于这种谱分析的超声晶粒尺寸估计结果误差较大。本文采用自回归（ＡＲ）谱估计方法，克服了传统ＤＦＴ方法的缺点，精确地重构材料特征函数功率谱，提高了晶粒尺寸估计精度，尤其在材料晶粒局部特性定量评价方面，本文方法具有很高的实用价值。