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基于自适应扩散模型的单帧红外条纹非均匀性校正算法
被引量:
6
1
作者
陈世伟
杨小冈
+1 位作者
张胜修
刘云峰
《中国光学》
EI
CAS
CSCD
2016年第1期106-113,共8页
针对红外焦平面成像系统存在列向条纹非均匀性的现象,采用了一种基于自适应PM扩散模型的非均匀校正新算法。首先,综合利用图像梯度信息和局部灰度统计信息,自适应计算PM模型的扩散阈值;然后将每列像素的PM模型估计值作为该列像素的期望...
针对红外焦平面成像系统存在列向条纹非均匀性的现象,采用了一种基于自适应PM扩散模型的非均匀校正新算法。首先,综合利用图像梯度信息和局部灰度统计信息,自适应计算PM模型的扩散阈值;然后将每列像素的PM模型估计值作为该列像素的期望值;最后采用最陡下降法迭代计算得到每列像元的校正参数,并对结果进行循环校正以提高校正效果。实验结果表明:该算法可以保护图像边缘信息,与同类算法相比,能够更有效地抑制条纹非均匀性,并且能够防止图像产生鬼影。
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关键词
单帧红外图像
条纹非均匀校正
自适应扩散模型
最陡下降法
鬼影
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职称材料
基于配准的红外焦平面阵列条纹非均匀性校正
被引量:
12
2
作者
任建乐
陈钱
钱惟贤
《红外与毫米波学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第6期499-502,506,共5页
条纹非均匀性是线扫红外焦平面阵列和非制冷凝视型红外焦平面阵列成像系统中一种特殊的固定图案噪声.分析了其产生的原因,提出了一种基于亮度恒定假设和配准的条纹非均匀性校正算法.根据相邻两帧获得亮度均方误差函数,最后通过最小化全...
条纹非均匀性是线扫红外焦平面阵列和非制冷凝视型红外焦平面阵列成像系统中一种特殊的固定图案噪声.分析了其产生的原因,提出了一种基于亮度恒定假设和配准的条纹非均匀性校正算法.根据相邻两帧获得亮度均方误差函数,最后通过最小化全局亮度均方误差函数得到全局最优解作为非均匀性校正的参数.实验结果表明,该算法能够在几帧内达到较好的收敛,且计算简单,有效提高了条纹非均匀性的校正效果.
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关键词
红外焦平面阵列
条纹
非
均匀
性
校正
亮度恒定
配准
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职称材料
红外焦平面阵列条纹非均匀性校正方法
被引量:
7
3
作者
任建乐
陈钱
+1 位作者
顾国华
钱惟贤
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2013年第8期1987-1990,共4页
条纹非均匀性是线扫红外焦平面阵列和非制冷凝视型红外焦平面阵列成像系统中一种特殊的固定图案噪声。提出了一种基于实际场景和非均匀性分离的模型方法,能够在单帧内实现条纹非均匀性的校正。通过局部窗口模版遍历相邻列的误差函数,得...
条纹非均匀性是线扫红外焦平面阵列和非制冷凝视型红外焦平面阵列成像系统中一种特殊的固定图案噪声。提出了一种基于实际场景和非均匀性分离的模型方法,能够在单帧内实现条纹非均匀性的校正。通过局部窗口模版遍历相邻列的误差函数,得到其非均匀性校正参数估计,并依据相邻两帧相关性的继承性,完成条纹非均匀性的校正。通过对模拟条纹非均匀性和实际图像的实验和理论分析,结果表明,文中算法能够显著提高条纹非均匀性校正效果。
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关键词
红外焦平面阵列
条纹
非
均匀
性
校正
误差函数
继承性
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职称材料
利用灰度差估计的条纹非均匀性校正方法
被引量:
6
4
作者
徐泽林
路东明
+1 位作者
王利平
顾国华
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2021年第5期20-26,共7页
条纹非均匀性是红外焦平面阵列成像系统中一种较为常见的固定图案噪声,其对成像质量会产生很大的影响。通常认为图像的非均匀性主要体现在像素间的灰度差,即非均匀性所引起的灰度差。为了解决这一问题,提出一种利用灰度差估计的条纹非...
条纹非均匀性是红外焦平面阵列成像系统中一种较为常见的固定图案噪声,其对成像质量会产生很大的影响。通常认为图像的非均匀性主要体现在像素间的灰度差,即非均匀性所引起的灰度差。为了解决这一问题,提出一种利用灰度差估计的条纹非均匀性校正方法。该方法根据条纹噪声的空间特性,对每一帧图像的非均匀性条纹的所在位置进行判断;根据条纹位置处相邻像素间的灰度差,对该处存在的非均匀性进行初步估计,并对下一帧的估计结果进行评价以进一步完善估计值。实验结果表明,所提方法能够显著减少条纹非均匀性,并且能够有效地保护图像的边缘信息。
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关键词
成像系统
图像处理
红外焦平面阵列
灰度差估计
条纹
非
均匀
性
校正
空间特性
原文传递
题名
基于自适应扩散模型的单帧红外条纹非均匀性校正算法
被引量:
6
1
作者
陈世伟
杨小冈
张胜修
刘云峰
机构
第二炮兵工程大学
二炮驻成都地区代表室
出处
《中国光学》
EI
CAS
CSCD
2016年第1期106-113,共8页
基金
国家自然科学基金项目(No.61203189)
二炮院校青年基金资助项目(No.2014QNJJ023)~~
文摘
针对红外焦平面成像系统存在列向条纹非均匀性的现象,采用了一种基于自适应PM扩散模型的非均匀校正新算法。首先,综合利用图像梯度信息和局部灰度统计信息,自适应计算PM模型的扩散阈值;然后将每列像素的PM模型估计值作为该列像素的期望值;最后采用最陡下降法迭代计算得到每列像元的校正参数,并对结果进行循环校正以提高校正效果。实验结果表明:该算法可以保护图像边缘信息,与同类算法相比,能够更有效地抑制条纹非均匀性,并且能够防止图像产生鬼影。
关键词
单帧红外图像
条纹非均匀校正
自适应扩散模型
最陡下降法
鬼影
Keywords
single infrared image
stripe nonuniformity correction
adaptive diffusion model
steepest descentmethod
ghosting artifact
分类号
TN215 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
基于配准的红外焦平面阵列条纹非均匀性校正
被引量:
12
2
作者
任建乐
陈钱
钱惟贤
机构
南京理工大学近程高速目标探测技术国防重点学科实验室
出处
《红外与毫米波学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第6期499-502,506,共5页
基金
国家自然科学基金(61101199)
江苏省自然科学基金(BK2011699)
江苏省博士后科研资助计划项目(1101081C)
文摘
条纹非均匀性是线扫红外焦平面阵列和非制冷凝视型红外焦平面阵列成像系统中一种特殊的固定图案噪声.分析了其产生的原因,提出了一种基于亮度恒定假设和配准的条纹非均匀性校正算法.根据相邻两帧获得亮度均方误差函数,最后通过最小化全局亮度均方误差函数得到全局最优解作为非均匀性校正的参数.实验结果表明,该算法能够在几帧内达到较好的收敛,且计算简单,有效提高了条纹非均匀性的校正效果.
关键词
红外焦平面阵列
条纹
非
均匀
性
校正
亮度恒定
配准
Keywords
infrared focal plane array(IRFPA)
stripe nonuniformity correction
brightness constancy
registration
分类号
TN911.73 [电子电信—通信与信息系统]
下载PDF
职称材料
题名
红外焦平面阵列条纹非均匀性校正方法
被引量:
7
3
作者
任建乐
陈钱
顾国华
钱惟贤
机构
南京理工大学江苏省光谱成像与智能感知重点实验室
北京理工大学光电成像技术与系统教育部重点实验室
出处
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2013年第8期1987-1990,共4页
基金
江苏省普通高校研究生科研创新基金(CXZZ12-0183)
国家自然科学基金(61101119)
江苏省自然科学基金(BK2011699)
文摘
条纹非均匀性是线扫红外焦平面阵列和非制冷凝视型红外焦平面阵列成像系统中一种特殊的固定图案噪声。提出了一种基于实际场景和非均匀性分离的模型方法,能够在单帧内实现条纹非均匀性的校正。通过局部窗口模版遍历相邻列的误差函数,得到其非均匀性校正参数估计,并依据相邻两帧相关性的继承性,完成条纹非均匀性的校正。通过对模拟条纹非均匀性和实际图像的实验和理论分析,结果表明,文中算法能够显著提高条纹非均匀性校正效果。
关键词
红外焦平面阵列
条纹
非
均匀
性
校正
误差函数
继承性
Keywords
infrared focal plane array
stripe nonuniformity
error function
succession
分类号
TN216 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
利用灰度差估计的条纹非均匀性校正方法
被引量:
6
4
作者
徐泽林
路东明
王利平
顾国华
机构
南京理工大学电子工程与光电技术学院
出处
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2021年第5期20-26,共7页
文摘
条纹非均匀性是红外焦平面阵列成像系统中一种较为常见的固定图案噪声,其对成像质量会产生很大的影响。通常认为图像的非均匀性主要体现在像素间的灰度差,即非均匀性所引起的灰度差。为了解决这一问题,提出一种利用灰度差估计的条纹非均匀性校正方法。该方法根据条纹噪声的空间特性,对每一帧图像的非均匀性条纹的所在位置进行判断;根据条纹位置处相邻像素间的灰度差,对该处存在的非均匀性进行初步估计,并对下一帧的估计结果进行评价以进一步完善估计值。实验结果表明,所提方法能够显著减少条纹非均匀性,并且能够有效地保护图像的边缘信息。
关键词
成像系统
图像处理
红外焦平面阵列
灰度差估计
条纹
非
均匀
性
校正
空间特性
Keywords
imaging systems
image processing
infrared focal plane array
gray difference estimation
stripe non-uniformity correction
spatial characteristics
分类号
TN215 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于自适应扩散模型的单帧红外条纹非均匀性校正算法
陈世伟
杨小冈
张胜修
刘云峰
《中国光学》
EI
CAS
CSCD
2016
6
下载PDF
职称材料
2
基于配准的红外焦平面阵列条纹非均匀性校正
任建乐
陈钱
钱惟贤
《红外与毫米波学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011
12
下载PDF
职称材料
3
红外焦平面阵列条纹非均匀性校正方法
任建乐
陈钱
顾国华
钱惟贤
《红外与激光工程》
EI
CSCD
北大核心
2013
7
下载PDF
职称材料
4
利用灰度差估计的条纹非均匀性校正方法
徐泽林
路东明
王利平
顾国华
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2021
6
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