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极端远紫外光刻技术
被引量:
4
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作者
谢常青
叶甜春
《半导体情报》
2001年第5期28-32,共5页
半导体器件与集成电路的不断小型化要求特征尺寸越来越小 ,极端远紫外光刻是 5种下一代光刻技术候选者之一 ,它的目标是瞄准 70纳米及 70纳米以下的特征尺寸光刻。本文从极端远紫外光源、极端远紫外光学系统、反射掩模、光刻胶、光刻机...
半导体器件与集成电路的不断小型化要求特征尺寸越来越小 ,极端远紫外光刻是 5种下一代光刻技术候选者之一 ,它的目标是瞄准 70纳米及 70纳米以下的特征尺寸光刻。本文从极端远紫外光源、极端远紫外光学系统、反射掩模、光刻胶、光刻机等方面对极端远紫外光刻技术进行了分析论述 。
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关键词
极端远紫外线光刻
半导体工艺
集成电路
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职称材料
题名
极端远紫外光刻技术
被引量:
4
1
作者
谢常青
叶甜春
机构
中国科学院微电子中心三室
出处
《半导体情报》
2001年第5期28-32,共5页
文摘
半导体器件与集成电路的不断小型化要求特征尺寸越来越小 ,极端远紫外光刻是 5种下一代光刻技术候选者之一 ,它的目标是瞄准 70纳米及 70纳米以下的特征尺寸光刻。本文从极端远紫外光源、极端远紫外光学系统、反射掩模、光刻胶、光刻机等方面对极端远紫外光刻技术进行了分析论述 。
关键词
极端远紫外线光刻
半导体工艺
集成电路
Keywords
extreme ultraviolet lithography
EUV light source
multilayer
reflective mask
stepper
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
极端远紫外光刻技术
谢常青
叶甜春
《半导体情报》
2001
4
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