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基于染料渗透试验的BGA焊点失效分析
被引量:
1
1
作者
吴尘
陈伟元
《现代制造工程》
CSCD
北大核心
2016年第10期111-114,共4页
对基于染料渗透试验的球栅阵列(BGA)焊点检测方法进行了阐述,通过试验,利用焊点失效模型和焊点开裂面积占比图分析了BGA焊点失效原因并提出改进意见,试验表明,染料渗透试验能全面地反映出BGA焊点的实际质量情况,是一种有效的焊点质量分...
对基于染料渗透试验的球栅阵列(BGA)焊点检测方法进行了阐述,通过试验,利用焊点失效模型和焊点开裂面积占比图分析了BGA焊点失效原因并提出改进意见,试验表明,染料渗透试验能全面地反映出BGA焊点的实际质量情况,是一种有效的焊点质量分析技术,能为产品后续的研发或质量改进提供参考。
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关键词
染料渗透试验
BGA焊点失效
失效模型
开裂面积
质量分析
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职称材料
题名
基于染料渗透试验的BGA焊点失效分析
被引量:
1
1
作者
吴尘
陈伟元
机构
苏州市职业大学电子信息工程学院
出处
《现代制造工程》
CSCD
北大核心
2016年第10期111-114,共4页
基金
江苏省高校科研成果产业化推进项目(JHB2012-75)
苏州市科技计划项目(应用基础研究计划)(SYG201246)
苏州市职业大学校级科研项目(SVU2015CGCX04)
文摘
对基于染料渗透试验的球栅阵列(BGA)焊点检测方法进行了阐述,通过试验,利用焊点失效模型和焊点开裂面积占比图分析了BGA焊点失效原因并提出改进意见,试验表明,染料渗透试验能全面地反映出BGA焊点的实际质量情况,是一种有效的焊点质量分析技术,能为产品后续的研发或质量改进提供参考。
关键词
染料渗透试验
BGA焊点失效
失效模型
开裂面积
质量分析
Keywords
dye penetration test
BGA solder joints failure
failure mode
crack size
quality analysis
分类号
TN305.94 [电子电信—物理电子学]
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于染料渗透试验的BGA焊点失效分析
吴尘
陈伟元
《现代制造工程》
CSCD
北大核心
2016
1
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