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栅对准误差对双栅MOSFET性能影响的分析
1
作者
钱莉
李伟华
《电子器件》
CAS
2002年第4期402-405,共4页
双栅 MOSFET是一种非常有发展前途的新型器件 ,它具有跨导高、亚阈值特性优异、短沟道特性好等优点。但是目前自对准的双栅 MOSFET的工艺制作相当困难。本文中分析了双栅 MOSFET的正、背面栅存在对准误差时 ,对器件的静态及动态特性的影...
双栅 MOSFET是一种非常有发展前途的新型器件 ,它具有跨导高、亚阈值特性优异、短沟道特性好等优点。但是目前自对准的双栅 MOSFET的工艺制作相当困难。本文中分析了双栅 MOSFET的正、背面栅存在对准误差时 ,对器件的静态及动态特性的影响 。
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关键词
栅对准误差
双
栅
MOS场效应晶体管
栅
不
对准
静态特性
动态特性
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职称材料
题名
栅对准误差对双栅MOSFET性能影响的分析
1
作者
钱莉
李伟华
机构
东南大学微电子中心
出处
《电子器件》
CAS
2002年第4期402-405,共4页
基金
模拟集成电路国家级重点实验室资助项目
文摘
双栅 MOSFET是一种非常有发展前途的新型器件 ,它具有跨导高、亚阈值特性优异、短沟道特性好等优点。但是目前自对准的双栅 MOSFET的工艺制作相当困难。本文中分析了双栅 MOSFET的正、背面栅存在对准误差时 ,对器件的静态及动态特性的影响 。
关键词
栅对准误差
双
栅
MOS场效应晶体管
栅
不
对准
静态特性
动态特性
Keywords
double gate MOSFET
gate misalignment
分类号
TN386 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
栅对准误差对双栅MOSFET性能影响的分析
钱莉
李伟华
《电子器件》
CAS
2002
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