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由栅氧损伤引起闩锁效应的失效分析
被引量:
4
1
作者
刘楠
刘大鹏
+1 位作者
张辉
祝伟明
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2015年第6期468-472,共5页
随着MOS器件特征尺寸的缩小和栅氧化层厚度的减薄,栅氧损伤成为MOS集成电路在实际应用中的主要失效模式之一。闩锁是CMOS集成电路结构所固有的寄生效应,寄生的可控硅结构一旦被特定条件触发,会在电源与地之间形成大电流通路,导致整个器...
随着MOS器件特征尺寸的缩小和栅氧化层厚度的减薄,栅氧损伤成为MOS集成电路在实际应用中的主要失效模式之一。闩锁是CMOS集成电路结构所固有的寄生效应,寄生的可控硅结构一旦被特定条件触发,会在电源与地之间形成大电流通路,导致整个器件失效。对一例由栅氧损伤引起器件闩锁效应的失效进行分析。通过微光显微镜(EMMI)技术和激光诱导阻值变化(OBIRCH)技术进行失效定位,在电路板级通信状态下进行闩锁效应复现及验证。最后通过分析损伤所在的电路功能和器件结构,阐述闩锁效应形成的机理。
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关键词
栅氧损伤
闩锁效应
可控硅(SCR)
微光显微镜(EMMI)技术
激光诱导阻值变化
(
OBIRCH)
技术
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职称材料
题名
由栅氧损伤引起闩锁效应的失效分析
被引量:
4
1
作者
刘楠
刘大鹏
张辉
祝伟明
机构
上海航天技术研究院第
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2015年第6期468-472,共5页
文摘
随着MOS器件特征尺寸的缩小和栅氧化层厚度的减薄,栅氧损伤成为MOS集成电路在实际应用中的主要失效模式之一。闩锁是CMOS集成电路结构所固有的寄生效应,寄生的可控硅结构一旦被特定条件触发,会在电源与地之间形成大电流通路,导致整个器件失效。对一例由栅氧损伤引起器件闩锁效应的失效进行分析。通过微光显微镜(EMMI)技术和激光诱导阻值变化(OBIRCH)技术进行失效定位,在电路板级通信状态下进行闩锁效应复现及验证。最后通过分析损伤所在的电路功能和器件结构,阐述闩锁效应形成的机理。
关键词
栅氧损伤
闩锁效应
可控硅(SCR)
微光显微镜(EMMI)技术
激光诱导阻值变化
(
OBIRCH)
技术
Keywords
gate oxide damage
latch-up effect
silicon controlled rectifier (SCR)
emission mi- croscope (EMMI) technology
optical beam induce resistance change (OBIRCH) technology
分类号
TN432 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
由栅氧损伤引起闩锁效应的失效分析
刘楠
刘大鹏
张辉
祝伟明
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2015
4
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职称材料
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参考文献
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