Si晶格常数超高精度传递测量中的标准晶体及制备

用XROI(X-Ray/Optics Interferometry)法测得高精度的Si(220)面间距,22.5℃为192015.902±0.019 fm.并发展了晶格常数超高精度测量传递方法.本文根据传递测量的原理及测量技术阐明了对标准晶体制备的要求.文中给出了我们的标准晶体的尺寸,一个样品晶体的测量曲线.

五十年来石英晶体频率标准的发展过程

晶体频标的发展进程历经了近半个世纪。本文强调了其中的技术变化和革新。本文论述了恒温型晶体频标从最初的真空管时代到晶体管、大规模集成电路(LSI)、以及混合结构使用的进程。 TCXO(石英晶体频率标准)的发展过程也包括模拟热敏电阻温度补偿、数字补偿、使用微机技术及自敏振荡器。

人工晶状体行业标准解析

目的深入了解人工晶状体标准对保证临床应用安全有效的作用。方法通过对标准条款的引申介绍了具体条款对安全有效性控制的作用和可能产生的危害,加深对标准条款意义的理解。结果达到对标准各条款在临床安全有效性控制方面具有重要性的认同。结论目前人工晶状体行业标准基本能够保证人工晶状体产品植入的安全有效性。

AgGa_(1-x)In_xSe_2晶体的定向加工

报道了一种AgGa1-xInxSe2晶体定向加工的新方法,即根据AgGa1-xInxSe2晶体自身解理面,结合晶体标准极图和X射线衍射仪,快速寻找AgGa1-xInxSe2晶体通光面并进行回摆精修的器件加工新方法。运用该方法,针对改进垂直Bridgman法自发成核生长的AgGa1-xInxSe2(x=0.2)晶体,经定向切割、研磨和抛光,初步加工出AgGa1-xInxSe2(x=0.2)晶体光参量振荡(OPO)器件,其相位匹配角θm=54.71°、方位角φ=45°,元件尺寸达8mm×8mm×18mm。新方法不仅定向准确、操作简便,而且可以应用于不同In含量的系列AgGa1-xInxSe2晶体定向加工。

Excel在石英晶体振荡器检定中的应用

本文以EE1610A型石英晶体振荡器为例,按照JJG181-2005《石英晶体频率标准检定规程》的要求,利用Excel完成日老化率、拟合直线斜率、相关系数、残差均方根值的计算,为减少人工计算、提高工效效率提供借鉴。

石英频标日老化率回归方程的推导

石英晶体频率标准的日老化率反映了石英频标在连续运行过程中频率随时间单方向的变化,是一个重要的技术指标。文章对JJG181-2005《石英晶体频率标准》检定规程中日老化率公式的由来进行了推导,通过推导过程,让检定人员理解最小二乘法在其中的应用,更清晰的明白上级计量机构所出高稳石英晶振证书中日老化率曲线的含义。

砷锗镉晶体的定向加工

介绍了一种砷锗镉(CGA)晶体定向加工的新方法,即根据CGA晶体自身解理面,结合晶体标准极图和X射线衍射图谱,确定出晶体的c轴方向;并以c轴为基准快速寻找CGA晶体通光面且进行回摆精修的器件加工新方法。运用该方法,针对改进的垂直Bridgman法自发成核生长的CGA晶体,经定向切割、研磨和抛光,初步加工出CGA晶体SHG倍频器件粗坯,其相位匹配角θm=33.58°、方位角φ=0°,尺寸达5 mm×5 mm×8mm。