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标准测试存取口与边界扫描结构在印制板级与系统级实现的探讨 被引量:1
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作者 刘家松 任长明 刘诗荣 《电子测量与仪器学报》 CSCD 1995年第3期28-33,共6页
本文探讨中国电子行业标准“标准可测性总经”第一部分“标准调试存取口与边界扫描结构”在印制板级与系统级的实现问题。简述了不要针床夹具借助边界扫描测试印制板上器件间互连的方法。综述了美国相应标准IEEEStd1149.1公布前后提出... 本文探讨中国电子行业标准“标准可测性总经”第一部分“标准调试存取口与边界扫描结构”在印制板级与系统级的实现问题。简述了不要针床夹具借助边界扫描测试印制板上器件间互连的方法。综述了美国相应标准IEEEStd1149.1公布前后提出和试行在印制板级和系统级实现的若干方法和方案,包括采用符合与不符合该标准的两种器件的混合型板和系统。初步探讨了实现中国电子行业标准“标准测试存取口与边界扫描结构”和开发混合型印制板与系统的测试方法与方案问题。 展开更多
关键词 可测性 集成电路 标准 标准测试存取口 边界扫描
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