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题名标准硅片波数定值及测量不确定度
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作者
谭云欢
李伯鸿
何晓洁
罗荷洲
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机构
海峡富民生质检技术服务有限公司
福州云石科技有限公司
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出处
《科技资讯》
2019年第24期1-3,共3页
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文摘
建立标准硅片波数值的测定方法,并对波数值的测量结果进行不确定度评定。方法:以硅片作为样品,用精密拉曼光谱仪测量520cm^-1附近的拉曼散射信号,记录该峰位的相对波数值。建立数学模型,分析各不确定度分量引入的不确定度,评定波数值的测量不确定度。
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关键词
标准硅片
单晶硅
拉曼光谱仪
波数不
确定度
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Keywords
Standard silicon
Single silicon
Raman spectrometer
Wavenumber value
Measurement uncertainty
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分类号
TB9
[机械工程—测试计量技术及仪器]
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题名非标硅片粘蜡技术研究
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作者
王玲玲
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机构
中国电子科技集团公司第四十六研究所
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出处
《天津科技》
2015年第6期14-15,18,共3页
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文摘
随着国际半导体工业的迅猛发展,标准尺寸硅片加工技术愈发成熟,加工设备自动化程度越来越高。但非标硅片的加工并没有相应的专业设备,其加工工艺也存在着极大的差异。以公司现有生产设备条件为基础,通过测量粘蜡后硅片的厚度,对比厚度值差异,寻找出较好的非标硅片粘蜡技术。
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关键词
标准尺寸硅片
非标硅片
厚度
粘蜡技术
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Keywords
standard sized wafer
non-standard silicon
thickness
wax sticking technology
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分类号
TN305
[电子电信—物理电子学]
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