通过γ辐射强度的变化规律定位核元件技术研究

利用标准面源来模拟核材料库的γ辐射场，从实验和理论两方面研究了移走某一放射源后四个不同监测位置γ辐射强度的变化规律。结果表明，移走监控对象中某一放射源后，不同检测位置γ辐射强度的变化规律是唯一的，并与理论计算符合得很好。据此完全可以确定核材料的变化情况。