X射线荧光光谱无标样分析技术在出入境矿产品检验中的应用

文中介绍了X射线荧光光谱(XRFS)分析中无标样分析技术的产生和发展,特别是对相关软件的开发及其分析步骤和工作原理作了说明。通过几个矿产品实样分析的例举,证明了这一技术在出入境商品检验领域中的应用及其前瞻。

X射线荧光光谱无标样分析软件在金属材料分析中的应用

简要介绍X射线荧光光谱无标样分析技术及最新的无标样分析软件 ,并应用该软件对黄铜、不锈钢和铝合金等金属材料进行了分析。

石墨炉原子吸收光谱无标样分析法的研究──Ⅰ．消除基体干扰

实现石墨炉原子吸收光谱绝对分析必须消除基体干扰。本研究采用有机基体改进剂、管壁原子化、热解涂层石墨管、峰面积积分吸收信号、Ｄ２灯或Ｚｅｅｍａｎ效应扣除背景，有效地控制和消除了海水基体对Ａｓ、Ｃｄ、Ｃｏ，Ｃｒ，Ｃｕ、Ｍｎ、ＭＯ，Ｎｉ、Ｐｂ和Ⅴ等元素的干扰，实现了无干扰测定。

石墨炉原子吸收光谱无标样分析法的研究Ⅱ．各种因素对元素特征质量实验值的影响

本实验在消除基体干扰的前提下，分别研究了狭缝宽度、灯电流、进样体积、冷却步骤、灰化温度、原子化温度及分析元素形态等因素对元素特征质量实验值的影响，设法消除或控制那些对特征质量实验值有明显影响的因素，以获得稳定的特征质量实验值。

石墨炉原子吸收光谱无标样分析法的研究 Ⅳ．实际样品的分析

以有机基体改进剂、管壁原子化、热解涂层石墨管、峰面积积分吸收信号、Ｄ２灯或Ｚｅｅｍａｎ效应扣除背景，有效地控制和消除了海水基体对Ｃｄ、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｃｕ、Ｍｎ、Ｎｉ、Ｐｂ等元素的干扰。在此前提下，用ＧＦＡＡＳ无标样分析法分析了实际海水样品中的痕量元素，与极谱法及间接火焰原子吸收法测得的结果相符，测得质控海水样品的结果与标准值亦很吻合，而且检出限和回收率都达到要求。

石墨炉原子吸收光谱无标样分析法的研究Ⅲ．元素特征质量实验值的稳定性

在消除基体干扰的前提下，分别采用北二光Ｄ＿２／ＷＦＸ－ＩＥ－ＡＡＳ、日立Ｚ／１８０－８０－ＡＡＳ及Ｐ．Ｅ．Ｚ／３０３０－ＡＡＳ仪器，研究了不同测量日期中在同一台仪器上以最优化分析条件获得的海水基体中Ａｓ，Ｃｄ，Ｃｏ，Ｃｒ，Ｃｕ，Ｍｎ，Ｍｏ，Ｎｉ和Ｐｂ九个元素的ｍ＿（０Ｅ）值的稳定性；同时还考察了不同日期测得的玩具样品中Ａｓ元素的ｍ＿（０Ｅ）值的稳定性。研究结果表明对同一仪器元素的ｍ＿（０Ｅ）值不因实验者、样品基体和测量日期的不同而发生大的波动，具有一定的稳定性。

石墨炉原子吸收无标样分析法测定血样中铝的研究

用ＧＦＡＡＳ无标样分析法测定了血样中的铝，通过测定人发和桃叶标准物质，验证了用ｍ０，ｅｘｐ值作为定量基准的可靠性．本文对无标样分析与标准加入法测得结果进行了比较，其相对偏差是４．３％～５．８％，在样品中加入铝标，测得其回收率为９４．２％～９９．３％，ＲＳＤ为３．６％～４．９％（ｎ＝１１），测定结果令人满意．说明在ＳＴＰＦ条件下，通过ｍ０，ｅｘｐ值进行无标样分析是可行的．

X射线荧光光谱法无标样分析测定粉煤灰中主次量元素

应用X射线荧光光谱仪测定粉煤灰中主次量元素时,存在适合绘制标准曲线的标准物质比较少、元素组分含量范围窄、梯度变化大等问题,而自制标样工作量大且定值不够准确.针对这些问题,可以应用无标分析来解决.但是粉煤灰中含碳量很高,大多数X射线荧光光谱仪都没有配备检测碳的分光晶体,仪器对试样中的碳无法检测,这会造成无标分析软件在最后计算过程中无法准确归一,而影响待测组分检测结果的准确度.因此文章采用灼烧除碳,消除了碳对无标分析软件在最后的归一化计算时的影响.试验证明,该方法的分析结果与化学法值吻合较好,各组分的相对标准偏差（RSD,n =11）在0.3％ ～3.2％之间,具有较好的重现性.较以前的方法简便快速,分析成本低,劳动强度小,适用性强,数据准确可靠.

能谱仪（EDS）无标样分析程序背底扣除的实验技术

能谱仪（ＥＤＳ）无标样分析程序背底扣除的实验技术张大同（华南理工大学测试中心，广州５１０６４１）利用无标样分析程序计算样品成分，必须精确地扣除背底。能谱背底是由样品中产生的连续谱Ｘ射线所形成。Ｆｉｏｒｉ等考虑连续谱被样品基体和探测器的吸收，提出背底模...

DH-910标样分析不易通过及误差率分析

通过实验和对比分析,该文从理论分析与实践的角度,阐述了DH-910地化仪空白、标样分析不易通过的故障原因,同时提出了解决方法。对用好DH-910地化录井仪提高地化解释符合率具有一定的指导作用。

波长色散X射线荧光无标样分析法 1——原理和迭代方程的推导

本文介绍一种用于X射线荧光波谱分析的无标样方法,推导了计算元素含量的迭代方程式。实验表明,方程的准确度令人满意。

激光溅射电离飞行时间质谱用于不锈钢无标样半定量元素分析

固体直接元素分析法与传统的固体元素分析方法相比，具有样品前处理简单、分析速度快、样品消耗量少、无毒及绝对灵敏度高等优点，已经在地质和环境等领域得到了广泛应用．固体直接元素分析法主要包括辉光放电质谱（GDMS）、激光溅射电感耦合等离子体质谱（LA．ICPMS）和激光诱导击穿光谱（LIBS）C53等．激光溅射飞行时间质谱（LA-TOFMS）是近年来发展起来的一种分析方法，与其它方法相比，具有谱图干扰少、可用于非导体的分析及可多元素同时检测等优点．

提高能谱无标样定量分析准确度的参数选择

针对如何提高X射线能谱仪(EDS)无标样定量分析的准确度,进行了一系列实验研究和理论分析.讨论了样品制样的基本要求,能谱分析过程中加速电压、收集时间和分析区域等方面对能谱分析结果的影响及其最佳的选择参数,如对于轻元素分析应采用较低电压、分析时间过长可能导致样品在电子束轰击下引起更大碳沉积等,通过合理的参数选择均能得到较为满意的分析结果,提高了定量测试的准确度.

X射线衍射法钾混盐无标样定量相分析

采用EVD、TOPAS应用软件和TOPAS结构数据库以及无机晶体结构数据库,对一些混合盐样品(如钾混盐、尾矿等)进行了X射线粉末衍射无标样定量相分析全谱拟合模拟研究。在用Rietveld分析法对上述样品中无机盐成分的X射线衍射谱进行模拟过程中,选择基本参数函数为峰形函数,并通过March-Dolase择优取向校正拟合,提高了拟合精度。测得钾混盐样品中钾盐镁矾相含量为72.44%,岩盐相含量为27.56%,误差值Rwp(17.45),Rp(12.21)和拟合度S(4.91)均有所降低。

铁矿石中铅、砷的X射线荧光光谱定性定量分析方法研究

采用无标样分析技术对铁矿石中的铅、砷含量进行了定性分析,对含有铅、砷的铁矿石进行了筛选。采用增量法制备含铅、砷铁矿系列标样,采用变化理论α系数法对基体效应进行校正,采用X射线荧光光谱法定量测定铁矿石中铅、砷的含量,由此拓展了铁矿石中元素的检测范围,能够满足日常监管检测的需要。

X射线荧光光谱法无标分析测定不规则金属材料中主次量元素

本文简要介绍了X线荧光光谱仪无标样分析技术和现阶段无标分析软件的发展,建立无标分析对无规则金属材料进行半定量无损分析,无需标准物质。本方法是一种较为快捷、方便而且有效的无规则金属材料中元素的半定量无损分析方法。

波长色散X射线荧光分析的新发展

除了继续发展波长色散X射线荧光分析装置在主、次量元素分析上高精度、高稳定性的固有特点之外,进一步提高灵敏度,使分析范围扩展到痕量分析;开拓微区面分布的元素成像分析;进一步对传统分析困难的轻元素和中、重金属元素的探讨,开发新的高级次谱线分析方法;适应新材料特别是纳米材料的分析要求,对薄膜分析的开拓等方面,已经有了长足的发展。在介绍商品化的分析装置方面的发展状况的同时,对无标样分析的基本参数法目前发展状况也做了介绍。

基于Rietveld无标样定量研究HMX的β→δ等温相变动力学

以Rietveld无标样定量方法为基础,利用原位X射线粉末衍射技术(XRD)研究了奥克托今(HMX)的β→δ等温相变动力学。描述了不同温度下HMX的转变进度-时间曲线,求得Avrami指数n约为0.6,建立了相关的等温相变动力学方程。采用Arrhenius方程定量表示了速率常数k与温度T的关系,计算的活化能Ea约为151kJ/mol,指前因子lnA为36.2。结果表明:实验温度是影响相变的主导因素,HMX发生β→δ相变时,δ相近似于1维随机成核长大。

基于系统工程法的沉积物分析体系及诊断技术

目前沉积物(污垢)组分分析没有现成的标准分析方法,系统故障诊断和清洗非常困难。为了解决这一问题,本文利用系统工程理论,构建了由基础分析体系和随机分析体系组成的污垢综合分析体系,对垢样组分分析,定性诊断系统的腐蚀、结垢、堵塞等障碍。研究了由X射线荧光光谱(XRF)无标样半定量分析及定性评估确定随机分析体系组成,马弗炉协同ICP-OES准确定量并直接读取基础分析体系和随机分析体系组分含量,污垢综合分析体系测定含量合计在100%±5%(5%为误差合计)为有效,结果归一化;然后根据垢样分析结果及垢样外观,结合工况,通过诊断技术,诊断系统障碍并及时整改。以某煤化工企业水洗水换热器和液氨蒸发器调节阀门污垢为例,XRF测定垢样康普顿线比率在0.967~0.981,说明结果可靠,由此确定随机分析体系组成;ICP-OES测定各组分元素工作曲线相关系数均在0.999以上,线性较好,由此准确定量各组分含量,各元素在垢样中的检出限为0.0004%~0.0010%。垢样中的各种成分的含量均反映某种倾向,通过现场工况和诊断技术,查找故障原因,经整改措施后及时解决了系统故障。研究结果表明:污垢综合分析体系及诊断技术能全面、客观、系统地反映垢样组成;并简便高效、快速准确分析和诊断煤化工换热器、过滤器、塔、管道、阀门等污垢的组分及系统故障。