植物叶片扫描电镜样品不同处理与观察方法的研究进展

扫描电子显微镜(ScanningElectronicMicroscope,SEM)是研究植物叶表皮结构、进行植物分类的有力工具。能否获得高质量的SEM图像,取决于样品的预处理和观察方法是否符合样本的特征。文章基于以前的研究结果和查阅的文献,介绍了SEM在植物叶表皮研究的应用现状、不同的处理及观察方法的研究进展,讨论了各种处理方法在叶表皮微形态研究上的优势及不足,以期为相关科研工作提供参考。