临床试验期中分析中不同样本空间排序方法矫正效应高估的比较

目的:比较逐段(SW)排序法、似然比(LR)排序法和极大似然估计值(MLE)排序法对临床试验中成组序贯设计期中分析效应高估的矫正效果。方法:使用SAS 9.4生成正态分布资料模拟数据集,模拟期中分析,采用中位无偏估计值(MUE)及其95%CI下限评估3种样本空间排序法的矫正效果。采用一项已上市的随机对照临床试验进行验证。结果:与SW排序法相比,LR排序法和MLE排序法的MUE及其95%CI下限更接近真实值。结论:对于正态分布数据,LR和MLE排序法能更好地矫正临床试验期中分析的效应高估。

样本空间排序法评价瞬时辐照无失效数据研究

为降低瞬时辐照抽样检验中现行经典非参数法的评价结果的保守性,引入样本空间排序法,从理论和实例两方面计算无失效数据的生存概率置信下限,并与经典非参数法进行对比。结果是,样本空间排序法不仅提高生存概率的置信下限,还增大这些置信限所对应的剂量率范围。该研究结果表明样本空间排序法提高了数据利用率,降低了保守性,可减少试验成本。

计数型截尾序贯检验的样本空间排序法

针对IEC1123所建议的截尾序贯检验存在未能使平均试验次数达到最少等不足之处,在对最优截尾序贯检验进行精确定义的基础上,通过在截尾序贯样本空间建立序关系,采取逐点优化的方式得到截尾序贯检验的最优化方案.计算结果表明,新方法与IEC1123所建议的截尾序贯抽样方案及序贯网图检验(SMT)相比,无论是在序贯检验截尾值的控制,还是在减少检验的平均试验次数等方面,都有十分明显的改进.

基于样本空间排序法的电子器件抗瞬时电离辐射性能评估方法

针对瞬时电离辐射效应考核中应用经典非参数法存在信息利用率低,评价结果过于保守的问题,本文在识别出瞬时电离辐射效应数据在统计意义上属于Ⅰ型区间删失数据的基础上,利用样本空间排序法,开展电子器件抗瞬时电离辐射性能评估研究。首先,基于无失效数据开展了理论分析和实例计算,并将计算结果与经典非参数法的计算结果进行了对比,结果表明,样本空间排序法提高了信息利用率,不仅可以增大生存概率置信下限,而且将置信下限所对应的吸收剂量率上限从最小值增大到几何平均值。其次,开展了失效分布模型的试验研究,根据瞬时电离辐射效应特点,提出以Ⅱ型区间删失数据为数据源获取经验生存函数,通过最小二乘法拟合经验生存函数用于计算相关系数,根据相关系数及对失效机理的分析,认为商用静态存储器翻转效应服从对数正态分布的可能性最大。最后,基于再抽样技术的蒙特卡罗模拟结果表明,样本空间排序法在高生存概率区间的计算结果具有保守性。

基于样本空间排序法的剩余寿命评估

主要讨论了不同定时截尾数据剩余寿命评估的问题。利用样本空间排序法对指数分布和威布尔分布下不同定时截尾数据的可靠性参数进行估计,并进一步将参数估计值代入建立的剩余寿命评估模型,求取产品的剩余寿命。结果证明样本空间排序法在样本量较少的情况下,精度满足要求。

Poisson分布截尾序贯近似最优检验的研究——以电子商务产品的抽样检验为例

对测量指标服从Poisson分布的电子商务产品进行抽样检验时,为降低抽样检验的试验成本,本文采用样本空间排序法设计Poisson分布计数型截尾序贯近似最优检验方案TS。结果表明,TS方案在保证实际犯两类错误的概率小于给定检验水平的情况下,平均试验次数尽可能达到最小,很好地降低了电子商务产品的抽样检验成本。此外,本文还使用蒙特卡洛法对其准确性进行验证。证实了采用样本空间排序法设计的Poisson分布计数型截尾序贯近似最优检验方案TS具有高可靠性。

不等定时截尾试验指数分布情形下的可靠性评定

针对产品的可靠性评估问题,一般需要统计分析寿命试验中收集到的试验数据。假如所有试验样品都在不同时刻终止试验,这种方式就是不等定时截尾寿命试验。针对不等定时截尾数据,现有方法大多只能得到参数的点估计,缺乏针对参数置信区间的估计方法。针对这一问题,在指数分布下,根据样本空间排序法这一理论,推导得到一个比现有方法更简单的计算方法。作为对比,基于极大似然估计的性质和bootstrap方法,又提出两个置信下限的近似求解方法。然后,通过蒙特卡罗仿真实验和一个算例,比较了这3个方法。实验表明基于样本空间排序法的计算结果更优。

关于结构可靠度的置信下限

针对实际工作中常见的一类试验数据 ,研究了产品的结构可靠度的置信下限。

计数型截尾序贯保证试验的研究

针对"高成本、破坏性"试验特点的计数型产品,为减少产品的抽样验收试验成本,对截尾序贯型保证试验进行了研究。在产品已通过鉴定试验的条件下,采用贝叶斯分析方法对鉴定试验数据进行综合,给出了成败型产品成功率参数P的截尾序贯型保证试验T^A的相关理论及方案设计方法.研究结果表明,对高质量水平的产品,截尾序贯保证试验T^A与原试验方案T^(OA)相比具有相当的通过验收试验的概率水平,同时能大幅度减少产品的平均试验次数等优点。采用实例分析方式,对截尾序贯保证试验T^A的设计方法进行了详细说明,并通过与原试验方案T^(OA)的操作特征曲线(OC)及平均试验次数(ASN)曲线的比较,进一步对截尾序贯型保证试验方案的优良性进行了验证。

关于平均无故障时间间隔(MTBF)保证试验的置信限

在对ＭＴＢＦ（平均无故障时间间隔）保证试验进行严格的数学描述的基础上，利用样本空间排序法找出了ＭＴＢＦ在一定意义下最优的置信下限和置信上限。

基于Duane曲线的可靠性增长模型

在阐述复杂武器装备系统在研制中,通常要经过实验——分析——改进的过程,即可靠性增长过程。由于产品处于改进阶段,每个阶段的产品的寿命所对应的总体就是不同的。因此估计最后阶段的可靠度及其置信限就有了一定的困难,讨论基于Duane曲线的指数可靠性增长模型——ERG模型。完全寿命方案下,给出了利用枢轴量构建置信限的推断方法,并证明了构建的置信限具有最优性。

两指数分布并联系统可靠度的置信下限

复杂系统可靠度置信下限的寻求，一般说来，由于系统的构成非常复杂，现有的许多统计方法大多只能给出近似解．对于由两个寿命分别服从指数分布的部件构成的并联系统，本文利用样本空间排序法，给出了系统可靠度置信下限的精确解，并提出了行之有效的算法。

一种经济的计数型截尾序贯检验

对"高成本、破坏性"的成败型产品成功率的抽样检验,如导弹命中率,引信可靠度等的验收检验,如何减少试验成本是科技工作者与工程人员共同关心的重要问题.对关于平均试验次数最优的截尾序贯检验,研究发现其平均试验次数具有随样本量截尾值增大而减少的趋势.本文从工程实际应用角度出发,将试验成本分解为试验准备费用与试验测试费用,针对试验准备费用与试验测试费用的不同比值,提出了一种关于最佳样本量截尾值的经济的截尾序贯检验方案,从而能更好地节省抽样检验的试验成本.最后,以IEC1123中的截尾序贯试验方案为例,对本文所提方案的优良性进行了验证.

K型区间删失数据下参数的置信限

基于K型区间删失数据,利用样本空间排序法给出参数优良的置信下限和计算置信下限的递推公式.