嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500综述

介绍了IEEE 1500标准制定的历程和背景、SoC测试面临的重大挑战及该标准所要解决的问题、IEEE 1500标准的基本结构和使用方法,最后对该标准的未来提出展望。

基于CTL的SOC IP核的测试技术

本文介绍了一种针对SOC测试设计中嵌入式芯核的核测试语言(CTL)。该语言描述了如何将可测试性设计置入具有知识产权 (Intellectual Property,简称 IP)芯核和SOC中,从而加速测试生成和复用。CTL语言标准虽然还未被IEEE正式通过,但已经在EDA厂商、ATE厂商和 IP芯核提供者之间悄然兴起并被积极采用,一系列基于 CTL的产品也相继被研制出来。本文通过对CTL的分析与研究,较为详细地说明了 CTL引入的重要性及其特性,并为 SOC IP芯核提供CTL语言测试设计实例。

基于嵌入式芯核测试的IEEE std 1500标准

本文介绍了IEEEstd1500的标准、基本结构和使用方法,描述了如何将标准运用到具有知识产权的芯核所构成的片上系统中,通过计算机程序设计的手段实现SOC的设计验证,完成IEEEstd1500标准中特定芯壳封装下的SOC测试,加速测试生成和复用,并结合芯核测试语言CTL提供测试设计实例。