基于IDDQ测试的VLSI门内电阻式桥接故障仿真

为真实模拟集成电路中的桥接故障并评价测试集质量,提出一种基于静态电源电流(IDDQ)测试的逻辑电路门内电阻式桥接故障仿真算法.首先,针对该故障类型,提出一种覆盖率评价标准;其次,利用电路级故障注入与仿真方法构造基本逻辑门单元的故障字典;最后,通过在逻辑电路功能仿真中查询故障信息实现门级的故障仿真.仿真实验表明:相比于传统方法,所提方法能更好地反映测试集对真实桥接故障的覆盖效果,并具备良好的仿真效能.

浅谈限流电路(LCC)测试

根据GB4943-2001标准,简单介绍了限流电路的要求,总结出限流电路的测试方法,并且通过两个实例具体分析如何测试限流电路(LCC)。

一起35kV主变有载开关的故障分析

某35 kV变电站一台35 kV主变有载开关在切换过程中,发生桥接电阻断裂,引起内部弧光放电,造成油质劣化;由于变压器无保护,有载调压开关长时间故障引起主变本体相间短路故障,线路保护动作跳闸,主变停运。

一起35kV主变有载调压开关故障的分析

介绍了某35 kV变电站一台35 kV主变有载调压开关在切换过程中发生桥接电阻断裂,引起内部弧光放电,造成油质劣化的事故。分析原因为变压器高压侧无保护运行,有载调压开关长时间故障引起主变本体相间短路,导致主变高压侧对侧线路后备保护动作跳闸,主变停运。最后针对此次事故,提出了相应的防范措施。