Y2001-62742 01132342000年 IEEE 电磁兼容性国际会议录,卷2=2000IEEE international symposium on electromagnetic com-patibility,Vol.2[会,英]/IEEE.—IEEE,2000.—506P.(EC)本会议录共分2卷,本书为第2卷,收集了会上发表的86篇论文...Y2001-62742 01132342000年 IEEE 电磁兼容性国际会议录,卷2=2000IEEE international symposium on electromagnetic com-patibility,Vol.2[会,英]/IEEE.—IEEE,2000.—506P.(EC)本会议录共分2卷,本书为第2卷,收集了会上发表的86篇论文,内容涉及测量天线,混响室,电磁屏蔽设计,辐射测量,有源电磁兼容测试芯片,应用梳状发生器进行电磁干扰测量,闪电效应。0113235射频识别用新梳状天线及近场分析[刊,译,英]/余兴奇//中国邮电高校学报(英文版).—2001,8(2).展开更多
文摘Y2001-62742 01132342000年 IEEE 电磁兼容性国际会议录,卷2=2000IEEE international symposium on electromagnetic com-patibility,Vol.2[会,英]/IEEE.—IEEE,2000.—506P.(EC)本会议录共分2卷,本书为第2卷,收集了会上发表的86篇论文,内容涉及测量天线,混响室,电磁屏蔽设计,辐射测量,有源电磁兼容测试芯片,应用梳状发生器进行电磁干扰测量,闪电效应。0113235射频识别用新梳状天线及近场分析[刊,译,英]/余兴奇//中国邮电高校学报(英文版).—2001,8(2).