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题名空间DSP加载系统可靠性设计
被引量:3
- 1
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作者
张路
贺兴华
卢焕章
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机构
国防科技大学ATR实验室
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出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2010年第5期15-17,共3页
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基金
国家"863"计划基金资助项目(2008AA801106)
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文摘
在空间环境中,长时间运行的空间飞行器信息处理系统存储器容易发生单粒子翻转现象(SEU),而单粒子翻转现象是导致空间飞行器失效的主要原因之一。基于此,通过分析SEU现象对不同类型存储器的影响,阐述SEU现象对加载可靠性的影响。通过重新设计加载系统结构,并引入三模冗余、检纠错编码和定时刷新FLASH存储器的方法,降低系统加载时由于SEU而失败的概率,提高系统加载运行的可靠性。
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关键词
差错检测和纠正
数字信号处理器
加载
单粒子翻转
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Keywords
Error Detection And Correction(EDAC)
Digital Signal Processor(DSP)
bootloading
Single-Event Upset(SEU)
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分类号
N945
[自然科学总论—系统科学]
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题名一种改进的对抗软错误电路结构设计
被引量:2
- 2
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作者
聂永峰
于东英
曾泽嵘
甘智勇
陈梦远
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机构
电子科技大学
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出处
《现代电子技术》
2011年第24期184-187,共4页
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文摘
给出了一种改进的基于时钟沿的自我检测和纠正的电路结构,以纠正由单粒子翻转(SEU)引起的数据错误。简单概述了已有的检测和纠正SEU的电路结构,并在该电路的基础上提出了改进的电路结构,以实现对触发器以及SRAM等存储器的实时监控,并可以及时纠正其由于SEU引起的数据错误。采用内建命令进行错误注入模拟单粒子翻转对电路的影响。改进的电路与原来的电路相比,以微小的面积和较少的资源换取更高的纠错率。
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关键词
SEU
检测和纠正
时钟沿
FPGA
触发器
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Keywords
SEU
EDAC
clock edge
FPGA
FF
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分类号
TN710-34
[电子电信—电路与系统]
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题名联机手写数学表达式识别方法综述
被引量:1
- 3
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作者
张建成
洪留荣
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机构
淮北煤炭师范学院计算机科学与技术学院
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出处
《淮北煤炭师范学院学报(自然科学版)》
2008年第3期40-47,共8页
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基金
安徽省教育厅自然科学基金项目(KJ2008B123)
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文摘
数学表达式的自动识别是将科学和工程文献中的数学表达式转变成电子文档的一个关键手段.数学表达式的识别由符号识别和结构分析两个主要阶段组成,符号识别又分两步骤,即符号的分割和识别.文章介绍了目前数学表达式识别的研究现状,给出了联机手写数学表达式的识别过程,对符号识别方法和结构分析方法进行概述.对数学表达式识别过程中的重要论点进行比较深入的阐述,根据一些总结性的评述,讨论了其他相关问题以及数学表达式识别的发展趋势.
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关键词
数学表达式识别
错误检测和纠正
符号分割
结构分析
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Keywords
mathematical expression recognition
error detection and correction
segmentation of symbols
structural analysis
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分类号
TP391.4
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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题名一种高可靠SoC芯片的系统级设计方法
被引量:4
- 4
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作者
柳泽辰
蒋剑飞
王琴
关宁
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机构
上海交通大学电子信息与电气工程学院
上海航天电子通讯设备研究所
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出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2018年第7期54-57,共4页
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基金
上海航天科技创新基金(SAST201355)
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文摘
为了实现SoC在系统级的高可靠设计,文本搭建了一个包括PowerPC、DRAM、DMA、SRAM模块的SoC系统级设计平台,并采用VCI总线协议实现互连.针对高可靠性问题,本文提出并实现了三模冗余与ECC纠错编码相结合的存储加固方法,通过一个图像数据处理程序,分析比较了利用冗余和编码带来的可靠性提升.系统级仿真结果表明,本文提出的高可靠设计可以显著提高SoC的可靠性.
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关键词
系统级芯片
三模冗余
错误检测和纠正
电子系统级设计
高可靠
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Keywords
SoC
TMR
ECC
ESL
high reliability
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分类号
TN4
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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