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微弹簧型CCGA器件植装工艺及评价方法
1
作者
张振越
周洪峰
+1 位作者
吉勇
朱家昌
《半导体技术》
CAS
北大核心
2024年第11期1023-1029,共7页
微弹簧型焊柱以其更好的抗振动、抗温度循环、耐冲击性能将替代高铅焊柱和铜带缠绕焊柱成为未来陶瓷柱栅阵列(CCGA)封装的新选择。针对当前国内微弹簧型CCGA器件工艺研究与评价方法稀缺的现状,以微弹簧型CCGA2577器件为实验对象,开展了...
微弹簧型焊柱以其更好的抗振动、抗温度循环、耐冲击性能将替代高铅焊柱和铜带缠绕焊柱成为未来陶瓷柱栅阵列(CCGA)封装的新选择。针对当前国内微弹簧型CCGA器件工艺研究与评价方法稀缺的现状,以微弹簧型CCGA2577器件为实验对象,开展了植装工艺与评价方法研究,提出了适用于微弹簧型CCGA器件的拉脱强度和剪切强度的测试方法与强度修正方法。结果表明,微弹簧型CCGA2577器件焊柱的焊点空洞率、剪切强度、拉脱强度均满足GB/T 36479—2018和GJB 548C—2021的判据要求。本文提出的植装工艺与评价方法能够有效指导微弹簧型CCGA器件的封装加工与质量评价。
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关键词
微弹簧
陶瓷柱栅阵列(CCGA)
植装工艺
拉脱强度
空洞率
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职称材料
题名
微弹簧型CCGA器件植装工艺及评价方法
1
作者
张振越
周洪峰
吉勇
朱家昌
机构
无锡中微高科电子有限公司
中国电子科技集团公司第五十八研究所
出处
《半导体技术》
CAS
北大核心
2024年第11期1023-1029,共7页
文摘
微弹簧型焊柱以其更好的抗振动、抗温度循环、耐冲击性能将替代高铅焊柱和铜带缠绕焊柱成为未来陶瓷柱栅阵列(CCGA)封装的新选择。针对当前国内微弹簧型CCGA器件工艺研究与评价方法稀缺的现状,以微弹簧型CCGA2577器件为实验对象,开展了植装工艺与评价方法研究,提出了适用于微弹簧型CCGA器件的拉脱强度和剪切强度的测试方法与强度修正方法。结果表明,微弹簧型CCGA2577器件焊柱的焊点空洞率、剪切强度、拉脱强度均满足GB/T 36479—2018和GJB 548C—2021的判据要求。本文提出的植装工艺与评价方法能够有效指导微弹簧型CCGA器件的封装加工与质量评价。
关键词
微弹簧
陶瓷柱栅阵列(CCGA)
植装工艺
拉脱强度
空洞率
Keywords
micro-spring
ceramic column grid array(CCGA)
column planting process
tensile strength
void area percentage
分类号
TN305.94 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
微弹簧型CCGA器件植装工艺及评价方法
张振越
周洪峰
吉勇
朱家昌
《半导体技术》
CAS
北大核心
2024
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