大样本测量中拟合精度与样本量的相关性

分析椭偏光谱光度法测量中回归方程的拟合精度与样本量的关系 ,提出在一定的样本量范围内 ,测量误差与样本量的一次方成反比的近似定量关系 ;用拟合曲线的标准差和相关系数来评价拟合精度的局限性 ;并指出 ,对测量精度产生重要影响的样本量存在着一个上界 ,参照由实验确定的这个上界 ,即可选择一个既能保证较好的测量精度 。

铜铟镓铝硒(Cu(InGaAl)Se2)薄膜制备及其光学性能

采用溶剂热法制备掺铝的铜铟镓硒Cu(InGaAl)Se2(CIGAS)纳米粉末,并直接将此纳米粉末作为蒸镀材料制备铜铟镓铝硒(CIGAS)薄膜,再将其放置在装有高纯硒粉的自制密封法兰内在真空下进行硒化和退火处理,从而得到符合化学计量比的CIGAS薄膜。利用X射线衍射(XRD)和拉曼光谱(Raman)对样品结构和成分进行测量,确认CIGAS薄膜样品是黄铜矿结构和铜铟镓铝硒成分。使用椭圆偏振光谱测量技术对CIGAS薄膜进行椭偏光谱测量,进而得出薄膜光学参数如折射率n(λ)、消光系数k(λ)、吸收系数a(l)以及薄膜光能隙Eg,并发现Al元素的掺杂明显增加了薄膜光能隙,并进行了相关物理分析。