硅纳米晶的椭圆偏振光谱研究

硅纳米晶量子点是硅发光研究领域最有潜力、最重要的一个研究方向。用热蒸发法在硅片上生长了富含硅纳米晶体的SiO2薄膜,观测到嵌埋于SiO2薄膜中硅纳米晶的较强光致发光谱;室温下在可见光区对该薄膜进行了椭圆偏振光谱测量研究。用有效介质近似（EMA）模型结合洛伦兹色散模型对椭偏参数进行了拟合,得到直径分别约为3 nm和5 nm大小的硅纳米晶在约300~830 nm光谱区的光学常数值。这些数据在硅基微纳光子学器件的研究中具有一定的参考价值。

双重傅里叶变换红外椭偏光谱系统的研制

介绍一种新型红外椭圆偏振光谱实验系统。实验中采用了对光子能量和方位角作双傅里叶变换 ,及同步旋转检偏和起偏器 (RAP)的方法 ,根据傅里叶变换的四个余弦交流分量 ,计算相应的光学常数。经过对实验系统各误差来源的分析和纠正 ,提高了实验精度 ,使误差控制在 1%以内。测量了Au等样品的红外介电函数谱 ,并用德鲁得 (Drude)模型作拟合运算 ,获得了与理论计算相一致的结果。