椭圆偏振测量术在金属腐蚀与防护领域的应用

椭圆偏振测量术是一种高度灵敏的、非破坏性的原位表征技术,是金属腐蚀与防护研究的一种重要工具.本文基于对椭圆偏振测量原理的简介,结合椭圆偏振仪和数据解析技术的最新进展,综述了椭圆偏振测量术在金属腐蚀与防护领域的应用现状并讨论了椭圆偏振测量术的发展趋势.

碲铌铅玻璃的椭圆偏振光谱研究

折射率、色散和吸收系数是用于超高速全光开关的光学材料的重要品质指数。本文用椭圆偏振仪对碲铌铅 (TNP)玻璃试样作波长自动扫描测量 ,测得在波长λ =2 5 8.3～ 82 6 .6nm范围内的折射率图谱与消光系数图谱 ,从而可计算各试样的阿贝数υd 和非线性折射率n2 。结果表明TNP玻璃具有较高的n2 。

用偏振片测量反射相移的方法及其理论分析

提出了一种新颖的、用两个线偏振片即可实现的测量反射相移的方法 ,给出了测量系统的光路图 ,在理论上阐述了这种方法的工作原理 ,做出了有关的计算机仿真结果 ;同时对该方法产生的测量不确定度进行了理论计算 ,给出其数学表达式 ,并对其进行了讨论 .最后 ,本文还将这种测量方法用于ZF - 7光学玻璃直角三棱镜斜面上内部反射引入的反射相移的研究中 ,结果表明理论预期值与实测值比较接近 .该方法的优点在于所用偏振器件容易得到 ,测量系统光路简单 ,容易实现 ,特别适用于那些买不到特殊偏振器件如巴俾涅补偿片等而又需要测量反射相移的研究单位 .

Cr-N薄膜抗氧化性能的研究

应用空心阴极离子镀膜技术制备的Cr-N薄膜其结构与氮气分压有关。在大气中 ,退火温度为 50 0℃高温条件下 ,Cr-N薄膜的抗氧化性能与N含量有关。由椭偏术测量得出CrN结构的Cr-N薄膜抗氧化性能最佳 ,而Cr2 N结构的Cr-N薄膜抗氧化性能最差 ,且都遵循抛物线氧化规律。

模拟退火算法与遗传算法在光谱椭偏数据处理中的应用比较

分别利用模拟退火算法和遗传算法在MATLAB 6.5中编写了一个数据处理程序,用来处理VA SE椭偏仪在光谱范围为500 nm^900 nm所测得的椭偏数据。根据VASE椭偏仪的光度法原理,对评价函数方程进行了改进,并选择合适的退火参数和遗传参数进行计算,得到的数据处理结果与仪器处理结果基本一致。最后对两种算法在解决该类问题上的优劣进行了比较。

硅基片上的自组装双层磷脂分子膜层

研究了L-α-磷脂酰乙醇胺分子（PE）与去污剂分子摩尔数之比Rm（P）/m（D）对磷脂分子在固体硅片表面自组装成膜的影响。通过椭偏技术测定磷脂膜层厚度，结合磷脂膜层表面疏水角的变化、磷脂分子头部亲水、尾部疏水的性质及与蛋白质分子的作用条件，得到：随着Rm（P）/m（D）在PE溶液中的增大，PE膜层在硅基片上的存在形式由单层向双层逐渐过渡。当对硝基苯酯基-聚乙二醇-（1，2-双油酰基-3-甘油磷脂乙醇胺）分子（pNP—PEG—DOPE）与已固定的PE分子反应时，分子间形成双层膜的机制也从pNP—PEG—DOPE与单层PE分子膜层的直接吸附逐渐过渡到取代上层PE分子并与下层PE分子吸附形成双层膜。

自动椭偏仪及其在LCD膜系测量中的应用

简要介绍了椭圆偏振测量术的基本原理，并对自动椭偏仪进行了介绍。由于自动椭偏仪具有无损探测、测量准确度高和测量迅速等特点，它非常适合用于LCD薄膜系统光学性质的在线测量。