BIOS陷门实现机理及检测技术研究

基本输入输出系统(BIOS)陷门对计算机系统影响巨大,且现有工具难以有效检测其存在。在逆向分析基础上,研究了BIOS结构及BIOS代码混淆技术。根据实现粒度,将BIOS陷门分为模块级BIOS陷门与指令级BIOS陷门,详细分析了这两类陷门的实现原理与特点。最后提出了基于模块构成分析的模块级陷门检测方法和基于完整性度量的指令级陷门检测方法。实验结果表明,两种方法能有效检测与之对应的BIOS陷门的存在。