MPC5668x微控制器测试研究

针对MPC5668x芯片在温度功能测试、模拟功能测试和数字功能测试3大功能测试流程中出现的温度漂移、接触电阻和时序问题,分别采用自动触发测试机的温度调节功能、减少并修正接触电阻和建立两套时序系统的解决方法对测试程序进行优化,提高芯片良品率。研究表明:该测试方案可用于MPC5668x系列芯片及其他汽车功能芯片测试中。