核电子学与核仪器中多步ADC的测试和校准

针对核电子学与核仪器中的多步模拟-数字变换器的测试和校准进行了研究。提出了基于工艺变化监测的校准思想和对于每一级的主要静态误差源即系统判决级偏移误差、级增益误差和内部参考电压误差的双残差信号处理方案。针对多级电路的校准提出了一种基于最速下降法的校准算法,通过比较估计输出和期望响应实现估计误差的创建。并针对基于模具级工艺监测器和温度传感器的工艺变化监测提出了两种估计算法,从而实现整个多步ADC的全量程测试和校准。