智能机内测试模拟系统中对微处理机的接入电源测试

机内测试技术(Built-in Test,简称BIT)是一种能显著改善装备或系统测试性与诊断能力的重要技术手段。智能机内测试模拟系统是运用智能BIT技术的理论,开发出的一个对硬件设备在线测试的模拟系统。智能机内测试模拟系统在对智能的模拟方面运用嵌入式C语言中的数组,随机函数等方法来实现。从而体现出智能机内测试的特点。本文描述了系统中对输入电源部分的测试过程。

利用C++模拟分子热运动

由于分子太小 ,教学中很难利用现有的技术和仪器直接观察到分子热运动。本文介绍利用C ++语言中的随机函数及描点作图等函数来模拟分子的热运动。本程序所模拟的分子热运动能给人直观。