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嵌入式固件模糊测试研究综述
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作者 计江安 井靖 +2 位作者 王奕森 董卫宇 孙浩楠 《小型微型计算机系统》 CSCD 北大核心 2024年第5期1173-1180,共8页
由于设备固件更新速度慢、安全防护弱等问题,导致嵌入式设备给国防军事、社会生活带来便利的同时也引入了大量安全风险.因此,快速找出并修复固件中的安全问题变得至关重要.模糊测试是一种高效识别软件缺陷的测试方法,本文针对此方法展... 由于设备固件更新速度慢、安全防护弱等问题,导致嵌入式设备给国防军事、社会生活带来便利的同时也引入了大量安全风险.因此,快速找出并修复固件中的安全问题变得至关重要.模糊测试是一种高效识别软件缺陷的测试方法,本文针对此方法展开研究.首先介绍了嵌入式系统及其固件的概念,概括了嵌入式系统的模糊测试流程.其次,分析了嵌入式固件模糊测试技术所面临的挑战以及相应的解决方法;然后,深入研究了基于仿真和基于接口的两种模糊测试技术,从一些先进的模糊测试器中分析当前嵌入式固件模糊测试发展现状;最后,总结了当前固件模糊测试技术存在的不足并提出下一步的研究方向. 展开更多
关键词 嵌入式系统 固件 固件仿真 模糊测试中
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