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正则高阶微分系统带权第二特征值的上界 被引量：5
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作者 朱敏峰 钱椿林 《苏州市职业大学学报》 2012年第4期30-36,共7页
考虑正则高阶微分系统带权第二特征值的上界估计.利用试验函数、Rayleigh定理、分部积分和Schwarz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关.其结果在物理学和力学中有着... 考虑正则高阶微分系统带权第二特征值的上界估计.利用试验函数、Rayleigh定理、分部积分和Schwarz不等式等估计方法与技巧,获得了用第一特征值来估计第二特征值的上界的不等式,其估计系数与区间的度量无关.其结果在物理学和力学中有着广泛的应用,在常微分方程的研究中起着重要的作用. 展开更多
关键词 正则高阶微分系统 特征值 特征向量 上界
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