椭偏法测光栅参数的可行性理论研究

提出一种新的光栅测试方法———利用椭偏仪测量光栅的基本参数 ,同时将求解优化问题的正单纯形法用来反演光栅的椭偏方程。首先假设一种光栅模型 ,计算出不同入射角的椭偏参数 (Δ ,Ψ) ,然后加入偏差量不同的高斯噪声 ,把加入噪声后的值 (Δm,Ψm)作为模拟测量值 ,采用正单纯形法进行求解。验证得知由这种方法求得的光栅参数接近假设的光栅参数值。反演结果表明 ,在扩大搜索范围时 ,仍可以在一定精度范围内得到准确解 。