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对数正态或正态寿命型元件及系统的贮存可靠性的近似置信下限
被引量:
4
1
作者
盛骤
于渤
《应用数学》
CSCD
北大核心
1995年第3期267-272,共6页
本文给出基于一次性检测数据的对数正态或正态寿命型元件及系统的贮存可靠性的近似置信下限的方法,并对得到的近似置信限的精度作了讨论,结果表明精度符合要求。本文还给出了数字例子。
关键词
贮存可靠性
置信下限
元件
系统
正态寿命型
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职称材料
题名
对数正态或正态寿命型元件及系统的贮存可靠性的近似置信下限
被引量:
4
1
作者
盛骤
于渤
机构
浙江大学
出处
《应用数学》
CSCD
北大核心
1995年第3期267-272,共6页
文摘
本文给出基于一次性检测数据的对数正态或正态寿命型元件及系统的贮存可靠性的近似置信下限的方法,并对得到的近似置信限的精度作了讨论,结果表明精度符合要求。本文还给出了数字例子。
关键词
贮存可靠性
置信下限
元件
系统
正态寿命型
Keywords
Storage reliability
Lower confidence limits
Bootstrap method
分类号
O213.2 [理学—概率论与数理统计]
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作者
出处
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被引量
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1
对数正态或正态寿命型元件及系统的贮存可靠性的近似置信下限
盛骤
于渤
《应用数学》
CSCD
北大核心
1995
4
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