正态统计模型均值突变的检验

提出了统计变点分析研究的意义在于研究自然界及社会各领域中有关事物的质的变化，并为这种变化的阶段性提供客观的划分标准。从正态统计模型出发，对均值变点的位置提供了一种合理、简单的估计方法，对其统计量进行推导，得到关于统计量Ｕ的分布函数的定理。对均值变点的假设检验的临界值进行计算，分别得出方差已知和方差未知时关于两种统计量Ｕ和Ｗ的检验临界值表。

分析测试实验室内部质量控制中移动极差合并统计监控技术下的不确定度动态测量评估

本文采用统计质量保证技术 (SQA ,statisticalqualityassurance)对被测体系的精密度和偏离性能做过持续性的监控分析。SQA技术的采用可以连续地表现出分析测量体系的能力 ,该技术的应用能确保测试数据的有效性 ,有利于分析测量体系潜在问题的分析。在此基础上 ,本文进一步提出了平均移动极差 (MR)合并统计动态监控技术。本研究认为 ,采用该技术来进行分析测量系统的动态不确定度评估 ,其贡献量可由质控样品 (QC)和线性拟合两部分合成。这一结论的得出能最大限度合成各种变异因素的影响 ,避免相关性的复杂计算 ,有利于分析测试实验室内部质量控制过程中测量系统的不确定度评估。

GTS14型与GTS12型探空仪平行观测差异性分析

采用分类汇总与正态统计方法对比GTS14型与GTS12型探空仪测量的海拔(气压)、温度、湿度的差异性。结果表明,GTS14型探空仪终止气压比GTS12型探空仪高1.5 hPa;GTS14型探空仪测量的海拔略高,分布较分散,反推其测量气压较低;GTS14型探空仪温度略高,分布较集中;GTS14型探空仪湿度在对流层≥500 hPa低层略低且集中,高层略高。整体上,二者的偏差属于同一级别,具有良好的一致性。GTS14型探空仪能替代GTS12型探空仪在业务上应用。

金属栅功函数变异对纳米MOSFET模拟/射频性能影响的统计分析

当集成电路技术进入到纳米尺度,金属栅极上分布的晶粒显著减少,功函数变异(WFV)对MOSFET器件和电路性能产生重要的影响.文中通过偏差反向传播(POV)方法将功函数变异解析为平带电压标准差,建立22nm NMOS器件模拟/射频性能的统计分析,这些性能参数包括栅电容、跨导、截止频率和跨导效率.经HSPICE仿真分析结果表明:上述参数均受WFV影响产生随机波动现象,且参数变化相对标准偏差对栅电压非常敏感;从统计分布看,模拟/射频性能参数受WFV影响均偏离正态分布,但其概率统计特性却各有差异.

航空结构环境振动试验裂纹分析

某航空结构进行耐久振动环境试验时,发现裂纹。通过建立有限元模型,进行随机响应分析,得到结构最大RMS应力处的功率谱密度。利用信号分析理论,将危险部位应力功率谱还原为多个样本的应力时域数据。利用名义应力法对多样本应力时域数据进行疲劳寿命估算,得到每个样本的寿命值。对多个样本的寿命估算值进行正态单边容差参数统计,得到结构的寿命值。寿命估算结果与试验结果较好吻合。利用分析结果,对结构振动疲劳薄弱部位进行改进。改进后的结构顺利通过环境试验考核,解决了实际工程问题。

应用SAS于教学试卷量化评析

应用教育测量学的理论、方法,配合使用SAS,通过计算学生考试成绩的平均分数、样本中位数、难度系数、区分度及正态统计量等,对教学试卷的正态性、难易度、区分度等各部分的优劣,进行了系统的分析、比较。